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Microscope à force atomique multifonctionnel
AtomEdge Pro
Le microscope à force atomique multifonctionnel AtomEdge Pro peut effectuer une imagerie par balayage tridimensionnel sur des matériaux, des dispositifs électroniques, des échantillons biologiques, etc. Il propose plusieurs modes de fonctionnement tels que contact, tapotement et sans contact, offrant aux utilisateurs des options d'opération plus flexibles et précises. De plus, il intègre plusieurs modes fonctionnels tels que la microscopie à force magnétique, la microscopie à force électrostatique, la microscopie de Kelvin à balayage et la microscopie à force piézoélectrique, offrant une grande stabilité et une bonne évolutivité. De plus, les modules fonctionnels peuvent être personnalisés de manière flexible en fonction des besoins de l'utilisateur, offrant des solutions ciblées pour des domaines de recherche spécifiques et réalisant une plateforme de détection efficace avec de multiples utilisations en une seule machine.
| Taille de l'échantillon | 25 mm |
| Méthode de balayage | Balayage complet de l'échantillon sur trois axes XYZ |
| Plage de balayage | 100 μm x 100 μm x 10 μm |
| Vitesse de balayage | 0,1-30 Hz |
| Niveau de bruit dans la direction XY | 0,4 nm |
| Niveau de bruit dans la direction Z | 0,04 nm |
| Non-linéarité | 0,15 % dans la direction XY et 1 % dans la direction Z |
| Point d'échantillonnage de l'image | La résolution maximale de l'image de la sonde de balayage est de 4096x4096 |
| Mode de fonctionnement | Mode contact, mode tapotement, mode d'imagerie de phase, mode levage, mode de balayage multidirectionnel |
| Multifonctionnel Mesure |
Microscope à force électrostatique (EFM), microscope de Kelvin à balayage (KPFM), microscope à force piézoélectrique (PFM), microscope à force magnétique (MFM), courbe de force |
