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Microscope de force atomique tout en un pour un fonctionnement flexible et précis
Le microscope à force atomique (AFM) est un outil de pointe conçu pour la mesure et l'analyse électrique à l'échelle nanométrique.Cet instrument avancé offre des capacités inégalées de numérisation et d'imagerie au niveau nanométrique., ce qui en fait un dispositif essentiel pour les chercheurs et les scientifiques travaillant dans divers domaines.
Principaux attributs du produit:
Le microscope de la force atomique se distingue par sa portée de balayage exceptionnelle de 100 μm dans les directions X et Y et de 10 μm dans la direction Z.Cette large plage de numérisation permet une imagerie détaillée et complète des échantillons au niveau nanométrique, fournissant aux chercheurs des informations précieuses sur les caractéristiques et les propriétés des surfaces.
Avec un niveau sonore de seulement 0,04 Nm dans la direction Z et 0,4 Nm dans la direction XY, l'AFM assure une grande précision et précision dans les mesures,ce qui le rend idéal pour les applications exigeantes qui nécessitent une acquisition fiable des données.
La méthode de numérisation de l'AFM utilise le numérisation complète d'échantillons XYZ à trois axes, permettant aux utilisateurs d'explorer facilement des échantillons sous plusieurs angles et directions.Cette approche de numérisation polyvalente facilite l'analyse complète des surfaces des échantillons, ce qui en fait un outil précieux pour un large éventail d'applications de recherche.
En outre, l'AFM possède une excellente linéarité, avec seulement 0,02% de non-linéarité dans la direction XY et 0,08% de non-linéarité dans la direction Z.Ce haut niveau de linéarité garantit que les résultats des mesures et des images sont très précis et fiables, permettant aux chercheurs d'interpréter leurs données en toute confiance.
En résumé, le microscope de la force atomique est une solution AFM tout-en-un qui offre des capacités de balayage exceptionnelles, de faibles niveaux de bruit, des méthodes de balayage précises,et une excellente linéarité dans les directions XY et ZAvec ses caractéristiques avancées et sa conception de pointe, l'AFM est un outil incontournable pour les chercheurs et les scientifiques qui effectuent des mesures et des analyses électriques à l'échelle nanométrique.
Portée de balayage | 100 μm x 100 μm x 10 μm |
Non linéaire | 00,02% dans la direction XY et 0,08% dans la direction Z |
Niveau sonore dans la direction Z | 00,04 Nm |
Méthode de balayage | XYZ Scan complet de l'échantillon sur trois axes |
Niveau sonore dans la direction XY | 0.4 Nm |
Taille de l'échantillon | 25 mm |
Taux de balayage | 0.1 à 30 Hz |
Le modèle AtomEdge Pro du microscope à force atomique (AFM) de Truth Instruments est un instrument de pointe conçu pour répondre aux exigences élevées de la recherche scientifique et des applications industrielles.D'origine chinoise, ce AFM avancé offre des mesures précises et des capacités d'imagerie pour un large éventail d'applications.
L'AtomEdge Pro est idéal pour diverses occasions et scénarios d'application de produits en raison de ses caractéristiques exceptionnelles:
L'une des caractéristiques les plus remarquables de l'AtomEdge Pro est sa capacité à fonctionner en mode Tapping, une technique populaire en AFM qui minimise les dommages aux échantillons et fournit des images haute résolution.Ce mode est particulièrement utile dans la recherche biologique et sur les matériaux mous où une imagerie douce est essentielle..
Que ce soit dans les laboratoires de recherche, les établissements universitaires ou les milieux industriels, l'AtomEdge Pro trouve son application dans divers scénarios:
Avec ses capacités avancées et son ingénierie de précision,L' AtomEdge Pro de Truth Instruments est un microscope de force de balayage fiable et polyvalent qui répond aux divers besoins de la recherche et de l' industrie modernes..