Truth Instruments Co., Ltd.
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Potentiel à l'échelle nanométrique avec microscope à force atomique pour l'imagerie haute résolution
L'une des caractéristiques clés de l'AFM est sa portée de balayage impressionnante, mesurant à 100 μm X 100 μm X 10 μm. Cette large portée permet une imagerie et une analyse détaillées d'une variété d'échantillons,de petites nanoparticules à des structures plus grandes.
Avec une vitesse de balayage allant de 0,1 Hz à 30 Hz, l'AFM offre une polyvalence dans la capture de processus dynamiques et l'obtention de résultats rapides.Les chercheurs peuvent ajuster la vitesse de balayage en fonction de la nature de leurs échantillons et du niveau de détail requis dans leur analyse.
L'AFM est capable d'accueillir des échantillons jusqu'à 25 mm, ce qui offre aux chercheurs un espace suffisant pour étudier un large éventail de matériaux et de structures.Cette souplesse fait de l'AFM un outil précieux pour diverses applications, y compris les sciences des matériaux, la biologie et la chimie.
Équipé d'une étape XYZ piézo-conduite, l'étape d'échantillonnage de l'AFM offre un contrôle précis et une stabilité pendant l'imagerie.,et Z, permettant aux chercheurs de capturer des images de haute qualité avec une résolution exceptionnelle.
En parlant de résolution, l'AFM possède une résolution impressionnante de 0,04 nm, permettant aux chercheurs de visualiser les caractéristiques de la surface avec des détails incroyables.Cette haute résolution est essentielle pour étudier les structures à l'échelle nanométrique et analyser les propriétés de surface au niveau atomique.
En conclusion, le microscope de la force atomique est un outil de pointe qui offre des capacités avancées pour l'analyse de surface.capacité de taille d'échantillon spacieuse, étape d'échantillonnage précise et résolution exceptionnelle,L'AFM est un outil précieux pour les chercheurs qui cherchent à explorer le nano-monde et à mener des études approfondies dans diverses disciplines scientifiques..
| Étape de l'échantillonnage | Phase XYZ piézo-alimentée |
| Les modes d'imagerie | Topographie, phase, frottement, force latérale, force magnétique, force électrostatique |
| Vitesse de balayage | 0.1 Hz à 30 Hz |
| Portée de balayage | 100 μm x 100 μm x 10 μm |
| Taille de l'échantillon | Jusqu'à 25 mm |
| Résolution | 00,04 nm |
Le microscope de force atomique de Truth Instruments, modèle AtomEdge Pro, est un instrument scientifique de pointe originaire de Chine, avec une résolution remarquable de 0,04 nm.Ce AFM est conçu pour répondre à un large éventail d'applications de recherche et industrielles..
L'une des caractéristiques les plus remarquables de l'AtomEdge Pro est sa polyvalence dans les modes d'imagerie, y compris la topographie, la phase, le frottement, la force latérale, la force magnétique et l'imagerie par force électrostatique.Cette capacité de mesure multimode permet aux chercheurs et aux ingénieurs de recueillir des données complètes sur les propriétés de surface de divers matériaux au niveau nanométrique.
Grâce à son impressionnante plage de vitesse de balayage de 0,1 Hz à 30 Hz, l'AFM de Truth Instruments permet un balayage rapide et efficace des échantillons.contrôle qualité dans la fabrication, ou analyse des matériaux, ce microscope à sonde de balayage offre une imagerie à grande vitesse sans compromettre l'exactitude des données.
L'échantillonneur de l'AtomEdge Pro est équipé d'un échantillonneur XYZ piézo-alimenté, permettant un contrôle précis du positionnement et du mouvement de l'échantillon.Cette caractéristique est particulièrement utile pour la réalisation d'expériences nécessitant une manipulation et une numérisation précises d'échantillons jusqu'à 25 mm.
Les chercheurs dans divers domaines, y compris la science des matériaux, la nanotechnologie, la biologie et la physique de surface, peuvent bénéficier des capacités du microscope de force atomique Truth Instruments.Si l'étude des échantillons biologiquesPour analyser des films minces, étudier les propriétés de surface ou mener des expériences nanomécaniques, l'AtomEdge Pro offre une solution fiable et polyvalente pour l'imagerie et la caractérisation avancées.