64K (8K x 8) EEPROM parallèle avec écriture de page et protection de données logicielles AT28C64B
Caractéristiques
• Temps d'accès à la lecture rapide - 150 ns
• Opération d'écriture automatique de page
- Adresse interne et verrouillage des données pour 64 octets
• Temps d'écriture rapide
- Durée de cycle d'écriture de la page: 10 ms Maximum (Standard)
2 ms Maximum (Option - Réf. AT28HC64BF Fiche technique)
- Opération d'écriture de page de 1 à 64 octets
• Dissipation faible puissance
- 40 mA courant actif
- 100 μA Courant de veille CMOS
• Protection des données matérielles et logicielles
• DATA Polling et Toggle Bit pour la détection de fin d'écriture
• Technologie CMOS à haute fiabilité
- Endurance: 100 000 Cycles
- Conservation des données: 10 ans
• Alimentation unique 5V ± 10%
• Entrées et sorties compatibles CMOS et TTL
• Brochage de l'octet approuvé par JEDEC
• Plage de température industrielle
• Option de conditionnement vert (sans Pb / sans halogène)
1. Description
L'AT28C64B est une mémoire à haute performance électriquement effaçable et programmable en lecture seule (EEPROM). Ses 64K de mémoire est organisée comme 8192 mots par 8 bits. Fabriqué avec la technologie CMOS non volatile évoluée d'Atmel, l'appareil offre des temps d'accès à 150 ns avec une dissipation de puissance de seulement 220 mW. Lorsque le dispositif est désélectionné, le courant de veille CMOS est inférieur à 100 μA.
L'AT28C64B est accessible comme une RAM statique pour le cycle de lecture ou d'écriture sans avoir besoin de composants externes. Le périphérique contient un registre de 64 octets pour permettre l'écriture simultanée de 64 octets. Pendant un cycle d'écriture, les adresses et 1 à 64 octets de données sont verrouillés en interne, libérant l'adresse et le bus de données pour d'autres opérations. Après l'initiation d'un cycle d'écriture, le dispositif écrira automatiquement les données verrouillées à l'aide d'une minuterie de commande interne. La fin d'un cycle d'écriture peut être détectée par DATA POLLING de I / O7. Une fois la fin d'un cycle d'écriture détectée, un nouvel accès pour une lecture ou une écriture peut commencer.
AT28C64B d'Atmel a des dispositifs additionnels pour assurer la qualité et la manufacturability. Le dispositif utilise une correction d'erreur interne pour une endurance prolongée et des caractéristiques améliorées de conservation des données. Un mécanisme de protection des données logiciel optionnel est disponible pour éviter les écritures par inadvertance. Le dispositif inclut également 64 octets supplémentaires d'EEPROM pour l'identification ou la poursuite de dispositif.
2. Configurations des broches
| Nom du pion | Fonction |
| A0 - A12 | Adresses |
| CE | Activer la puce |
| OE | Activation de la sortie |
| NOUS | Activer l'écriture |
| I / O0 - I / O7 | Entrées / sorties de données |
| Caroline du Nord | Pas de connexion |
| DC | Ne vous connectez pas |
2.1 PDIC à 28 conducteurs, SOIC à 28 conducteurs Vue de dessus
2.2 PLCC à 32 conducteurs Vue de dessus
Remarque: Les broches du bloc PLCC 1 et 17 ne sont pas connectées.
2.3 TSOP à 28 conducteurs Vue de dessus
3. Diagramme de bloc
4. Notations maximales absolues *
Température sous sollicitation ................................ -55 ° C à + 125 ° C
Température de stockage ........................................ -65 ° C à + 150 ° C
Toutes les tensions d'entrée
(Y compris les broches NC)
En ce qui concerne le sol ...................................- 0.6V à + 6.25V
Toutes les tensions de sortie
En ce qui concerne le sol .............................- 0.6V à VCC + 0.6V
Tension sur OE et A9
En ce qui concerne le sol ...................................- 0.6V à + 13.5V
* AVIS: Des contraintes supérieures à celles indiquées sous la rubrique «Valeurs maximales absolues» peuvent causer des dommages permanents à l'appareil. Il s'agit d'une contrainte uniquement et le fonctionnement fonctionnel du dispositif à ces conditions ou à toutes autres conditions au-delà de celles indiquées dans les sections opérationnelles de cette spécification n'est pas implicite. L'exposition à des conditions maximales absolue pendant des périodes prolongées peut affecter la fiabilité de l'appareil
