CONTRÔLEUR de POUSSÉE de MODE électronique de COURANT d'ENTRÉE de puces de TPS40211DGQR IC

TPS40210, TPS40211

4.5-V Au CONTRÔLEUR de POUSSÉE de MODE de COURANT d'ENTRÉE 52-V

CARACTÉRISTIQUES

• Pour la poussée, retour rapide, SEPIC, applis d'entraînement de LED

• Tension large d'opération d'entrée : 4,5 V à 52 V

• Fréquence réglable d'oscillateur

• Contrôle actuel à frèquence fixe de mode

• Compensation interne de pente

• Conducteur intégré de Bas-Side

• Début doux programmable de boucle bloquée

• Protection de surintensité

• Synchronisation externe capable

• Reference700-mV (TPS40210), 260-mV (TPS40211)

• Fonction à faible intensité de débronchement

APPLICATIONS

• Éclairage de LED

• Systèmes de contrôle industriels

• Systèmes à piles

DESCRIPTION

Les TPS40210 et les TPS40211 sont la tension de large-entrée (4,5 V à 52 V), contrôleurs asynchrones de poussée. Ils conviennent aux topologies qui exigent un FET fondé de N-canal de source comprenant la poussée, le retour rapide, le SEPIC et les diverses applications de conducteur de LED. Les caractéristiques de dispositif incluent le début doux programmable, la protection de surintensité avec la tentative de relance automatique et la fréquence programmable d'oscillateur. Le contrôle actuel de mode fournit la réponse passagère améliorée et la compensation simplifiée de boucle. La principale différence entre les deux pièces est la tension de référence à laquelle l'amplificateur d'erreurs règle la goupille de FB. 

CAPACITÉS ABSOLUES

sur la température ambiante fonctionnante de libre-air sauf indication contraire (1)

(1) les efforts au delà de ceux énumérés sous « des capacités absolues » peuvent endommager permanent le dispositif. Ce sont des estimations d'effort seulement, et l'opération fonctionnelle du dispositif à ces derniers ou de toutes les autres conditions au delà de ceux indiqués sous « a recommandé des conditions de fonctionnement » n'est pas impliquée. L'exposition aux conditions absolu-maximum-évaluées pendant des périodes prolongées peut affecter la fiabilité de dispositif.

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