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Le portique de système de mesure de la large échelle 3d structurent les appareils de mesure optiques
Caractéristiques de mécanisme et d'application de machine de mesure du même rang :
1. Construction de l'instrument :
Conçu avec l'établi d'un mécanisme de marbre de base et de portique de panneau, l'instrument est caractérisé par exactitude régulière, bonne adaptabilité à l'environnement de travail, constitution simple, forte, non-déformable et belle, et mécanisme opératoire établi selon l'ergonomie, et en attendant est équipé du logiciel de mesure puissant et est facile à utiliser.
2. Mouvement de mécanisme :
cet instrument de mesure est équipé de contrôle automatique à trois axes et équipé le système de système de grille de correction de Nidec de précision d'importation, de moteur du Japon Panasonic de la tige, de la vis à haute efficacité servo de Taïwan TBI, rail de guide à haute précision de Taïwan HIWIN aussi bien que logiciel de mesure professionnel pour la mesure.
3. Configurations fonctionnelles principales d'instrument :
cet instrument est utilisé dans avec le logiciel automatique professionnel de mesure d'AUSKY, contrôleur spécial d'Aotian, alimentation d'énergie BONNE MOYENNE, le système d'entraînement de moteur servo de Panasonic, CCD de la couleur 650TV de TEO, haute résolution de PMS de 0.7-4.5 fois lentille optique automatique à haute définition spéciale de bourdonnement et d'écran de fixe-foyer, source lumineuse contrôlée par le programme de séparation de LED, système de grille de correction de Nidec de précision d'importation, ordinateur de Lenovo, moniteur d'affichage à cristaux liquides, clavier, souris, et la mesure numérique.
4. Mérites globaux :
A. Suitable pour des applications de mesure de multi-variété, dimensions complexes et exactitude de mesure exigeante, avec même l'efficacité de mesure facile et rapide et l'efficacité de mesure augmentée.
B. L'instrument a les mérites suivants en ce qui concerne à traitement d'images : bavures automatiques saut-au-dessus de, rapports de mesure et statistiques se produisantes automatiques de résultats, et ouvert pour lier d'imprimantes, etc., appropriés aux applications larges d'industrie.
Paramètres techniques
Paramter et modèle | AMH1512 | |
Établi | Taille en verre de table (millimètres) | 1600X1248 |
Poids porteur (kilogrammes) | 30 | |
Voyage | Axe des abscisses (millimètres) | 1200 |
Axe des ordonnées (millimètres) | 1500 | |
Axe de Z (millimètre) | 200 | |
Système d'image et de mesure | Résolution d'affichage (millimètres) | 1/0.5 (facultatif) |
Précision d'instrument (um) | (4+L/200) um | |
Système de représentation (CCD) | Couleur de TEO HD | |
Objectif de bourdonnement (X) | Bourdonnement 0.7~4.5X objectif | |
Rapport optique visuel total (x) | 30~190X | |
Distance de fonctionnement (millimètres) | 96mm | |
Source lumineuse | Source lumineuse programmable de partiton de LED (source lumineuse coaxiale facultative) | |
Dimension d'ensemble (millimètres) | 2390X1830X1850 | |
Poids (kilogrammes) | 3500kg | |
Alimentation d'énergie | 220V C.A. 50Hz |
Liste de configuration :
Numéro de séquence | Nom | Unité | Quantité |
1 | Principal organisme | PCS | 1 |
2 | Table d'instrument | PCS | 1 |
3 | Logiciel d'AUSKY | PCS | 1 |
4 | carte vidéo | PCS | 1 |
5 | Manette | PCS | 1 |
6 | Boîtier de protection | PCS | 1 |
7 | Ordinateur | PCS | 1 |
8 | Affichage à cristaux liquides | PCS | 1 |
9 | Bloc optique de calibrage d'Aocheng | PCS | 1 |
10 | Sonde de précision (facultative) | PCS | 1 |
11 | Clavier et souris | PCS | 1 |
12 | Certificat de carte de garantie de spécifications | PCS | 1 |
Introduction aux fonctions de logiciel :
Interface du logiciel
Méthodes de mesure d'A. Multiple, y compris la bord-découverte automatique, bord-découverte sectionnelle automatique, l'effort à l'écran de point de souris, la ligne transversale se dirigeant, la proximité se dirigeant, le contraste et le sommet se dirigeant, la découpe se dirigeant, la sonde se dirigeant, le laser se dirigeant, et etc.
L'algorithme de bord-découverte de B. Powerful assure l'exactitude de point d'échantillonnage et la correction automatique de pixel sur la stabilité de échantillonnage,
où, une course permettra la correction automatique de pixel, inutile de décaler fréquemment.
Construction de C. Element
La technique de structure d'élément, offre des méthodes multiples, telles que changeant, tournant, extrayant, combinaison, mettant en parallèle,
mettre d'aplomb, reflétant, symétrie, intersectant, éléments tangentiellement structurés ; La structure d'élément permettra l'utilisateur à
abordez quelques éléments durs pour mesurer, et par conséquent ayant pour résultat l'efficacité de travail accrue ; Le compositionnel
le processus est de choisir des éléments pour la participation compositionnelle, choisir l'élément de résultat, clair et simple. Options pour
méthodes de composition disponibles sous la forme d'illustration.
D. Synchronization de laser et d'image
Avant que le laser mesurant, pour synchroniser d'abord le laser et l'image, avant de suivre la mesure puisse être exécuté. Utilisant a
l'échantillon, trouvent un tranchant sur l'image, avant décalage le centre de ligne transversale à un tel tranchant pour exiger la valeur du même rang, avant
décalez la tache laser à un tel tranchant pour exiger la valeur du même rang d'un tel tranchant, cliquez sur pour confirmer pour envelopper
synchronisation, pour réaliser l'image programmant la mesure de laser.
(Avec ceci, dans le processus de mesure suivant, au le Qu'est ce que mien de tache laser ou à l'l'exploitation de tache de représentation, ils peuvent être décalés
le centre d'élément a déjà extrait)
Macro de rangée d'E. Workpiece
Répondant aux circonstances de placer simultanément les montages identiques ou différents multiples sur l'établi, rangée dessus
chaque montage peut être identique ou différent. L'utilisateur peut simplement remplacer le montage après mesure des objets sur un montage,
quelle aide sauf le temps et l'efficacité d'augmentation.
(Montage 1) (objet 1)
Graphiques de F. Import CAD pour la mesure
Software support la mesure sur des objets avec les graphiques de DAO comme calibre, qui permettent la mesure du même rang ou
mesure de comparaison. Une telle fonction s'applique à l'objet de n'importe quelles découpe/forme dans la marge mesurante du
instrument de mesure.