Microscope à effet tunnel
- Conception miniaturisée et détachable, très facile à transporter et à enseigner en classe
- La tête de détection et l'étape de numérisation de l'échantillon sont intégrées, la structure est très stable et l'anti-interférence est forte
- La méthode d'alimentation intelligente de l'aiguille de détection automatique en céramique piézoélectrique sous pression contrôlée par moteur protège la sonde et l'échantillon
- Système d'observation CCD latéral, observation en temps réel de l'état d'insertion de l'aiguille de la sonde et positionnement de la zone de numérisation de l'échantillon de la sonde
- Suspension à ressort méthode antichoc, simple et pratique, bon effet antichoc
◆ Conception miniaturisée et détachable, très facile à transporter et à enseigner en classe
◆ La tête de détection et l'étape de numérisation de l'échantillon sont intégrées, la structure est très stable et l'anti-interférence est forte
◆ L'échantillon d'entraînement à axe unique s'approche automatiquement de la sonde verticalement, de sorte que la pointe de l'aiguille soit perpendiculaire au balayage de l'échantillon
◆ La méthode d'alimentation intelligente de l'aiguille de détection automatique en céramique piézoélectrique sous pression contrôlée par moteur protège la sonde et l'échantillon
◆ Système d'observation CCD latéral, observation en temps réel de l'état d'insertion de l'aiguille de la sonde et positionnement de la zone de balayage de l'échantillon de la sonde
◆ Méthode antichoc à suspension à ressort, simple et pratique, bon effet antichoc
◆ Éditeur utilisateur de correction non linéaire du scanner intégré, caractérisation nanométrique et précision de mesure supérieure à 98 %
| A61.4510 |
| En mode travail |
Mode hauteur constante
Mode courant constant |
| Courbe du spectre actuel |
Courbe IV
Courbe courant-distance |
| Plage de balayage XY |
5×5um |
| Résolution de numérisation XY |
0,05 nm |
| Plage de balayage Z |
1um |
| Résolution de numérisation Y |
0,01 nm |
| Vitesse de numérisation |
0,1 Hz à 62 Hz |
| Angle de balayage |
0~360° |
| Taille de l'échantillon |
Φ≤68mm
H≤20mm |
| Déplacement de scène XY |
15×15mm |
| Conception absorbant les chocs |
Suspension à ressort |
| Système optique |
Zoom continu 1 ~ 500x |
| Production |
USB2.0/3.0 |
| Logiciel |
Win XP/7/8/10 |
| Microscope |
Microscope optique |
Microscope électronique |
Microscope à sonde à balayage |
| Résolution maximale (um) |
0,18 |
0,00011 |
0,00008 |
| Remarque |
Immersion dans l'huile 1500x |
Imagerie des atomes de carbone du diamant |
Imagerie d'atomes de carbone graphitiques d'ordre élevé |
|
|
|
| Interaction sonde-échantillon |
Mesurer le signal |
Informations |
| Force |
Force électrostatique |
Forme |
| Courant tunnel |
Courant |
Forme, conductivité |
| Force magnétique |
Phase |
Structure magnétique |
| Force électrostatique |
Phase |
répartition des charges |
| |
Résolution |
Condition de travail |
Température de travail |
Dommage à l'échantillon |
Profondeur d'inspection |
| MPS |
Niveau atomique 0,1 nm |
Normal, Liquide, Vide |
Chambre ou basse température |
Aucun |
1 ~ 2 niveau d'atome |
| TEM |
Pointe 0,3 ~ 0,5 nm
Réseau 0,1 ~ 0,2 nm |
Vide poussé |
Température ambiante |
Petit |
Habituellement <100nm |
| MEB |
6-10nm |
Vide poussé |
Température ambiante |
Petit |
10mm @10x
1um @10000x |
| FIM |
Niveau atomique 0,1 nm |
Super haut vide |
30~80K |
Dommage |
Épaisseur d'atome |
