Microscope optique + atomique de force, tout-en-un

◆Conception intégrée de microscope métallographique optique et de microscope atomique de force, fonctions puissantes

◆Il a le microscope optique et les fonctions atomiques de représentation de microscope de force, qui peuvent fonctionner en même temps sans s'affecter

◆En même temps, il a les fonctions de la 2D mesure optique et de la mesure atomique du microscope 3D de force

• ◆La tête de détection laser et l'étape de balayage d'échantillon sont intégrées, la structure est très stable, et l'anti-parasitage est fort

  ◆Le dispositif de mise en place de sonde de précision, ajustement d'alignement de tache laser est très facile

• ◆L'échantillon d'entraînement de simple-axe approche automatiquement la sonde verticalement, de sorte que l'à bec soit perpendiculaire au balayage d'échantillon

  ◆La méthode de alimentation d'aiguille intelligente de détection automatique en céramique piézoélectrique pressurisée contrôlée par le moteur protège la sonde et l'échantillon

• ◆Système de positionnement optique de rapport optique ultra-haut pour réaliser le positionnement précis du secteur de balayage de sonde et d'échantillon

  ◆Rédacteur non linéaire intégré d'utilisateur de correction de scanner, nanomètre

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• Spécifications	A62.4500	A622.4501	A62.4503	A62.4505
  Mode de travail	Mode de tapement [Facultatif] Mode de contact Mode de frottement Mode de phase Mode magnétique Mode électrostatique	Mode de contact Mode de tapement [Facultatif] Mode de frottement Mode de phase Mode magnétique Mode électrostatique	Mode de contact Mode de tapement [Facultatif] Mode de frottement Mode de phase Mode magnétique Mode électrostatique	Mode de contact Mode de tapement [Facultatif] Mode de frottement Mode de phase Mode magnétique Mode électrostatique
  Courbe actuelle de spectre	Courbe de RMS-Z [Facultatif] F-Z Force Curve	Courbe de RMS-Z F-Z Force Curve	Courbe de RMS-Z F-Z Force Curve	Courbe de RMS-Z F-Z Force Curve
  Chaîne DE X/Y de balayage	20×20um	20×20um	50×50um	50×50um
  Résolution DE X/Y de balayage	0.2nm	0.2nm	0.2nm	0.2nm
  Chaîne de balayage de Z	2.5um	2.5um	5um	5um
  Résolution de balayage de Y	0.05nm	0.05nm	0.05nm	0.05nm
  Vitesse de balayage	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz
  Angle de balayage	0~360°	0~360°	0~360°	0~360°
  Dimension de l'échantillon	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm
  Déplacement DE X/Y d'étape	15×15mm	15×15mm	25×25um	25×25um
  Conception amortissante	Suspension de ressort	Suspension de ressort Métal protégeant la boîte	Suspension de ressort Métal protégeant la boîte	-
  Syestem optique	objectif 4x Résolution 2.5um	objectif 4x Résolution 2.5um	objectif 10x Résolution 1um	Oculaire 10x Plan LWD APO 5x10x20x50x d'infini 5.0M Digital Camera 10" moniteur d'affichage à cristaux liquides, avec la mesure Illumination de LED Kohler Focalisation brute et fine coaxiale
  Sortie	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  Logiciel	Victoire XP/7/8/10	Victoire XP/7/8/10	Victoire XP/7/8/10	Victoire XP/7/8/10

• Microscope	Microscope optique	Microscope électronique	Microscope de balayage de sonde
  Max Resolution (um)	0,18	0,00011	0,00008
  Remarque	1500x à immersion dans l'huile	Atomes de carbone de diamant de représentation	Atomes de carbone graphitiques d'ordre élevé de représentation

• Interaction de Sonde-échantillon	Signal de mesure	L'information
  Force	Force électrostatique	Forme
  Courant de tunnel	Actuel	Forme, conductivité
  Force magnétique	Phase	Structure magnétique
  Force électrostatique	Phase	distribution de charge

• 	Résolution	Condition de travail	Temperation fonctionnant	Damge à prélever	Profondeur d'inspection
  SPM	Atom Level 0.1nm	Normal, liquide, vide	Pièce ou bas Temperation	Aucun	1~2 Atom Level
  TEM	Point 0.3~0.5nm Trellis 0.1~0.2nm	Vide poussé	Pièce Temperation	Petit	Habituellement <100nm>
  SEM	6-10nm	Vide poussé	Pièce Temperation	Petit	10mm @10x 1um @10000x
  FIM	Atom Level 0.1nm	Vide poussé superbe	30~80K	Damge	Atom Thickness

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