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Laboratoire d'EMC

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Ville:guangzhou
Province / État:guangdong
Pays / Région:china
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Laboratoire d'EMC

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Brand Name :Kinte
Model Number :EMC laboratory
Place of Origin :Guangdong, China
MOQ :1
Price :Price base on test requirement which should talk directly.
Delivery Time :150 days
Packaging Details :Pallet
Function :electromagnetic compatibility test of household appliance
System :Harmonics and flicker testing system
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Laboratoire d'EMC

 

Partie I : Aperçu

 

Ce plan est formulé en termes de test de compatibilité électromagnétique des appareils électroménagers.

Ce plan effectuera des essais selon des normes telles que CISPR 11, CISPR 16-1-4, le CEI 61000-3-2, immunité de la norme ANSI C63.4 : Le CEI 61000-4-2, le CEI 61000-4-3, le CEI 61000-4-5, le CEI 61000-4-6, le CEI 61000-4-8 et le CEI 61000-4-11.

 

II. condition d'essai

Mesure de perturbation conduite, plage de fréquence : 148.5kHz -30MHz

Mesure de perturbation rayonnée, plage de fréquence : 30MHz-6GHz

Harmoniques et mesure de clignotement basée sur des critères : Le CEI 61000-3-2/3

Mesure d'immunité contre la perturbation conduite basée sur des normes :

1. Le CEI 61000-4-2 : Essai d'immunité de décharge électrostatique

2. Le CEI 61000-4-4 : Essai éclaté passager rapide électrique d'immunité

3. Le CEI 61000-4-5 : Essai d'immunité de montée subite (impact)

4.IEC 61000-4-6 : Immunité contre des perturbations conduites induites par des champs de radiofréquence

5. Le CEI 61000-4-8 : Essai d'immunité de champ magnétique de fréquence de puissance

6. Le CEI 61000-4-11 : Immersions de tension, interruptions courtes et essais d'immunité de variations de tensions

IV. composition en système

Toute la série de système de test de compatibilité électromagnétique se compose de sous-systèmes suivants :

Système de test continu d'interférence (conduction)

Système de test rayonné de perturbation

Système d'essai d'immunité contre des perturbations conduites induites par des champs de radiofréquence

Système d'essai d'immunité contre la perturbation conduite passagère

Harmoniques et système d'essai de clignotement

L'introduction détaillée de chaque sous-système sera mentionnée en partie II.

 

Mots clés du produit:
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