Unité de mesure de source PXIe-4143 PXI de National Instruments compatible OEM avec options personnalisables
Présentation du produit
L'unité de mesure de source (SMU) PXI PXIe-4143 de National Instruments intègre un canal polyvalent capable de fournir du courant ou de la tension avec un point de consigne et une résolution de mesure de 16 bits. Ce module hautes performances combine des capacités de source et de mesure dans un format compact PXI Express.
Principales fonctionnalités
- Canal d'outil intégré avec une résolution de 16 bits pour une sortie précise de courant ou de tension
- Peut fournir jusqu'à 6 V et 1 A comme source d'alimentation supplémentaire
- Prend en charge les tests de caractérisation des transistors nécessitant un courant/tension constant pendant les analyses
- Solution peu encombrante avec jusqu'à 17 modules dans un seul châssis PXI (17 canaux SMU + 17 canaux d'alimentation programmables dans un espace 4U)
- Fonctionnement bimode : source de tension constante ou source de courant constant avec limites de conformité réglables
- Capacité de télédétection pour une précision de mesure améliorée dans les applications de haute précision
- Algorithmes de mesure avancés pour différentes conditions d'impédance des DUT
Spécifications techniques
| Paramètre |
Spécification |
| Numéro de pièce |
782431-01 |
| Sensibilité actuelle |
10 PA |
| Canaux SMU |
4 |
| Plage de tension |
-24 V à 24 V |
| Technologie SourceAdapt |
Oui |
| Puissance maximale du dissipateur CC |
3,6 W |
| Puissance maximale de la source CC |
3,6 W |
| Plage de courant continu |
-150 mA à 150 mA |
| Connecteur de bus |
PXI-Express |
Méthodologie de mesure
Le PXIe-4143 SMU utilise des stratégies de mesure intelligentes basées sur les caractéristiques de l'appareil. Pour les DUT à faible résistance, il applique un stimulus de courant suivi d'une mesure de réponse en tension. Pour les DUT à haute impédance, il utilise un stimulus de tension suivi d'une mesure de réponse en courant.
Avantages de l'application
- Économies significatives d'espace et de coûts par rapport aux solutions de test traditionnelles
- Idéal pour les applications de tests parallèles nécessitant plusieurs canaux SMU
- Précision de mesure améliorée grâce à la capacité de télédétection
- Configuration flexible pour diverses exigences de test de semi-conducteurs