Appareil de contrôle de vitesse d'onde sismique de sismographe d'exploration de vitesse de vague
Application :
a) Détermination de l'épaisseur de la couche de terrains de recouvrement et de la forme d'ondulation de l'interface de roche en place.
b) Déterminez la direction de position, de largeur et de distribution des défauts cachés et des zones criquées de fracture.
c) Détectez le statut de développement du karst, des gueules, des secteurs brûlés, des colonnes effondrées, et des cavernes souterraines.
l) Divisez l'ordre des strates sédimentaires lâches.
e) Enquête sur les éboulements et l'affaissement et d'autres catastrophes géologiques.
f) Cartographie géologique.
g) Inspection de qualité de base et détermination des paramètres élastiques géotechniques.
h) Détection de fuite des barrages et des barrages de réservoir.
Pour l'excitation des ondes sismiques, la source séismique devrait être raisonnablement choisie selon les conditions de la tâche séismique et les conditions géologiques séismiques de la zone de manoeuvre. Le principe de déterminer le système de source est que l'onde sismique efficace est forte et la vague d'interférence est relativement faible ; la bande de fréquence est large : quand le point de source est excité, le disque séismique a la bonne répétabilité.
En utilisant martelant la source de vibration, la source en baisse de vibration de marteau, et la source mécanique de vibration d'impact, un plat de soutien spécial devrait être étendu au point de choc pour empêcher le déclenchement secondaire provoqué par rebond.
Pour exciter l'expédition et la vague de manipulation, employez la source de plat de robinet, font le d'axe long de la perpendiculaire de planche à la ligne d'enquête, et le point médian du d'axe long soit situé sur la ligne d'enquête ou l'extension de la ligne d'enquête, et rend la planche à couplage intermédiaire avec la terre. Afin d'augmenter l'énergie d'excitation, des poids appropriés peuvent être empilés sur la planche.
Spécifications
| La Manche |
6/12/24/48 |
| Stations témoin |
1024, 2048, 4096, 8192, enquête 16384 microsismique,
échantillonnage de 1M, plusieurs entailles
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| Fréquence d'échantillonnage |
10μs, 25μs, 50μs, 100μs, 200μs,
500μs, 1ms, 2ms, 5ms, 10ms, 20ms
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| Enquête microsismique |
1ms~200ms, convertisseur sélectionnable d'A/D : 24 bits |
| Pile et amplification de signal |
bit 32 |
| Dynamique |
144dB |
| Bandes de passage de fréquence |
0.1Hz~4000Hz |
| Bruit |
1μV (plein-fréquence) |
| Cohérence d'amplitude |
±0.2% |
| Cohérence de phase |
±0.01ms |
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