Détecteur analytique de la pureté SF6 complète de grande précision multifonctionnelle
Application de produit :
L'instrument convient à examiner la pureté du gaz SF6 dans l'équipement SF6 (GIS, disjoncteur, CT, pinte, etc.)
Il adopte la technologie infrarouge non distribuée de la spectroscopie de double-vague (NDIR) pour assurer la détection élevée de sensibilité de SF6, qui est principalement employé pour mesurer la pureté du gaz SF6 et n'est pas affecté par le gaz de fond. L'analyseur a l'indicateur de chargement de batterie et le chargeur intégré. Le composant de détection peut rapidement et exactement mesurer la pureté SF6.
Caractéristiques du produit :
1. Méthodes multiples de calibrage : mode unique et multipoint de calibrage, facile à maintenir.
2. L'instrument est plus intelligent : les touches de raccourci réglées du « zéro et de la « meilleure valeur de la pureté », temps de réponse est moins que 3s.
3. La précision est plus fiable : adoptant une nouvelle génération de la technologie des sondes à haute précision, de la méthode différentielle multicanale, éliminant l'impact sur l'environnement, avec une meilleure exactitude et des données plus fiables.
4. Pleine opération d'écran tactile, commode pour employer.
5. L'affichage est plus scientifique : la mesure de données adopte le calibrage de rapport de qualité, strictement compatible aux procédures standard.
6. Léger et portatif est facile à utiliser.
7. Composants de détection de longue durée.
8. Les résultats de mesure ne sont pas affectés par la température d'environnement.
9. L'approvisionnement de puissance de batterie rechargeable, C.A. et C.C, peut être employé pendant plus de 30 heures à la fois.
Paramètres de produit :
Résolution : ±0.01%
Temps d'essai : environ 1 minute
Chaîne de mesure : 0~100% SF6
Incertitude : ±0.2% (rapport de masse)
Source d'énergie : C.A. intégré 220V 50/60Hz de batterie au lithium
La température fonctionnante : - 30ºC~50ºC (la meilleure précision à 20ºC)
Période de garantie : Une garantie de qualité d'an après expédition.
