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Sockets d'essai pour circuits intégrés

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prise de test de mémoire

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Sireda Technology Co., Ltd.

Ville:shenzhen

Pays / Région:china

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China Socket d'essai IC personnalisable à styles multiples pour les paquets BGA/QFN/SOP wholesale

Socket d'essai IC personnalisable à styles multiples pour les paquets BGA/QFN/SOP

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Numéro de modèle :Socket de test de rotation

Lieu d'origine :CHINE

Quantité de commande minimale :1

Pas :≥0.3mm

Comptage des broches :2-2000 +

Packages compatibles :BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP

Solution thermique :Dissipateur de chaleur, ventilateur d'air, refroidissement liquide

Type de socket :Rabattre, haut ouvert, compatible

Type de conducteur :Broches de sonde, broche pogo, PCR

Température de fonctionnement. :-55°C à +150°C

Caractéristiques :Très personnalisable

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Support de test CI - Plusieurs styles disponibles (Couvercle à clapet)

Besoin du bon support de test CI pour votre puce ? Fournissez vos dessins et décrivez votre cas d'utilisation—nos experts vous recommanderont la meilleure solution ! Que vous privilégiez un accès rapide par clapet, un réglage précis ou une gestion thermique avancée, nous avons des solutions optimisées pour des tests rapides et fiables. Obtenez un support personnalisé pour une inspection et une validation sans faille.

Clapet Support

Convient pour un remplacement rapide de la puce avec moins de 200 billes pour améliorer l'efficacité.

Bouton rotatif supérieur

Idéal pour les puces avec plus de 200 billes pour éviter d'endommager les billes lors de la manipulation.

Couvercle avec cadran de réglage de l'épaisseur

Permet une adaptation rapide pour les puces de différentes épaisseurs.

Bloc de pression avec dissipateur thermique

Intègre des fonctions de refroidissement pour gérer la chaleur pendant les opérations.

Ventilateur de refroidissement monté sur le dessus

Assure une régulation thermique active pour une stabilité d'utilisation prolongée.

Vous trouverez ci-dessous les spécifications essentielles que les ingénieurs évaluent lors de la sélection des supports de test pour une fiabilité et un débit maximum :

Support de test CI : Spécifications principales

Propriété	Paramètre	Valeur typique
Mécanique	Cycles d'insertion	≥30 000–50 000 cycles
	Force de contact	20–30 g/broche
	Température de fonctionnement	Commercial -40 ~ +125 Militaire -55 ~ +130
	Tolérance	±0,01 mm
Électrique	Résistance de contact	<50 mΩ
	Impédance	50Ω (±5 %)
	Courant	1,5 A~3 A

Nous proposons une gamme complète de solutions de supports de test CI, des conceptions standard de l'industrie aux configurations entièrement personnalisées.

Nos offres standard comprennent :

Supports de test BGA (pas de 0,3 mm à 1,27 mm)
Supports QFN/LGA (conceptions à faible force d'insertion)
Supports haute fréquence (performances jusqu'à 67 GHz)
Supports de rodage et automobiles (versions à durabilité étendue)

Besoin de quelque chose de différent ? Nous sommes spécialisés dans les conceptions de supports personnalisés pour :

Boîtiers CI non standard
Tests en environnement extrême (température/vibration élevées)
Applications à courant élevé
Exigences particulières en matière d'intégrité du signal

Obtenez exactement ce dont vous avez besoin :

Consultation de conception gratuite
Prototypage rapide (échantillons en 14 jours)
Validation de test personnalisée

[Contactez notre équipe d'ingénieurs] dès aujourd'hui pour discuter de vos exigences spécifiques en matière de supports de test.

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