Sireda Technology Co., Ltd.
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Socket de test de programmation et de burn-in à ouverture supérieure de qualité supérieure pour les tests de semi-conducteurs exigeants
Conçus pour la fiabilité dans les environnements à haute température (jusqu'à 130°C+), nos sockets de test de burn-in garantissent des performances constantes pendant les cycles prolongés de programmation et de test des circuits intégrés. Avec :
Idéal pour les fabricants de semi-conducteurs, les laboratoires de test et les installations de R&D nécessitant précision et longévité.
Vous trouverez ci-dessous les spécifications essentielles que les ingénieurs évaluent lors de la sélection des sockets de test pour une fiabilité et un débit maximum :
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Propriété |
Paramètre |
Valeur typique |
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Mécanique |
Cycles d'insertion |
≥30 000 à 50 000 cycles |
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Force de contact |
20 à 30 g/broche |
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Température de fonctionnement |
Commercial -40 ~ +125 |
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Tolérance |
±0,01 mm |
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Électrique |
Résistance de contact |
<50 mΩ |
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Impédance |
50 Ω (±5 %) |
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Courant |
1,5 A~3 A |
Votre partenaire de confiance pour des solutions de sockets de test de circuits intégrés de précision
Chez Sireda, nous proposons des solutions de sockets de test de bout en bout—des modèles standard à volume élevé aux configurations entièrement sur mesure conçues pour vos exigences exactes.
Solutions standard prêtes pour un déploiement immédiat :
✔ Sockets BGA à pas fin (options de pas de 0,3 mm à 1,5 mm)
✔ Sockets QFN/LGA à profil bas avec actionnement à force d'insertion nulle (ZIF)
✔ Sockets haute vitesse/RF (CC à 70 GHz avec une perte de signal minimale)
✔ Sockets critiques pour les environnements de burn-in, automobiles et MIL-STD
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