Sockets de test CI ATE haute performance Solutions de précision pour le test de mémoire

Nos prises de test ATE IC haute performance sont conçues spécifiquement pour les systèmes d'équipement de test automatisé (ATE) aux stades de test final (FT), offrant des performances de contact ultra fiables pour la mémoire,logique, et des essais de production à grande échelle.

• ✔ Optimisé pour la manutention automatisée - Conçu pour une intégration transparente avec les systèmes ATE de pick-and-place pour maximiser le débit
• ✔ Contacts d'essai de précision - Les options de broche à pin ou de ressort à cycle élevé assurent des connexions électriques stables à travers des milliers de cycles d'essai
• ✔ Fiabilité de l'étape FT - Rigoureusement validée pour une utilisation dans les processus d'essai final (FT) où l'intégrité et la répétabilité du signal sont essentielles
• ✔ Prêt à la mémoire et à la production - Idéal pour la DRAM, le Flash, le SoC et d'autres circuits intégrés à volume élevé nécessitant une validation constante

• Durabilité supérieure - Conçu pour des essais de cycle élevé avec des matériaux robustes qui résistent à des milliers d'insertions
• Large compatibilité - Prend en charge BGA, QFN, SOP et autres paquets IC
• Technologie de contact de précision - sondes à ressorts à faible résistance ou broches pour connexions électriques fiables
• Configurations personnalisées - Équipements d'essai adaptés aux conceptions uniques des circuits intégrés et aux exigences d'essai
• Options thermiques et à haute fréquence - prises spécialisées pour les tests de combustion, de température élevée et de RF

Pour plus d'options ou des demandes personnalisées, voir les détails ci-dessous ou contactez nos ingénieurs.

Que ce soit pour valider des prototypes, programmer des circuits intégrés, ou exécuter des tests de production à grande échelle, nos prises de test personnalisées assurent précision et répétabilité.Nos prises sont dotées de conceptions mécaniques robustes pour empêcher la déformation sous contrainte thermique tout en maintenant une résistance de contact stableCompatibles avec les gestionnaires et les testeurs automatisés, ils rationalisent votre processus de validation tout en réduisant les temps d'arrêt.