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Sockets d'essai pour circuits intégrés

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prise de test de mémoire

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Sireda Technology Co., Ltd.

Ville:shenzhen

Pays / Région:china

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China Douille en élastomère de caoutchouc Connecteur en élastomère durable Pas d'endommagement des billes de soudure wholesale

Douille en élastomère de caoutchouc Connecteur en élastomère durable Pas d'endommagement des billes de soudure

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Numéro de modèle :Top

Lieu d'origine :CHINE

Quantité de commande minimale :1

Pas :≥0.3mm

Bande passante :80g

Comptage des broches :2-2000 +

Packages compatibles :BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP

Type de socket :Top ouvert, clapet, mangé, etc.

Type de conducteur :Broches de sonde, broche pogo, PCR

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Sockets de test BGA non destructifs | Conception haute vitesse 25 GHz et échange rapide

Matrice élastomère hybride

Les couches conductrices auto-cicatrisantes maintiennent un contact stable lors des cycles thermiques (-40°C à +125°C)

Maintenance sans outil

La conception modulaire permet le remplacement complet de la grille de contact enmoins de 2 minutes

Compatibilité universelle

Adaptable pourBGA, QFN, CSP et PoPsockets de test (configurations personnalisées disponibles)

Aucun dommage aux billes

Force de compression contrôlée dans20-25g/bille (contre 30g+ standard de l'industrie)

PersonnaliséÉlastomèreSocket de test

Propriété	Paramètre	Valeur typique
Mécanique	Cycles d'insertion	≥30K–50K cycles
	Force de contact	15~25g/broche
	Température de fonctionnement	Commercial -40 ~ +125 Militaire -55 ~ +130
	Tolérance	±0.01mm
Électrique	Résistance de contact	<50mΩ
	Impédance	50Ω (±5%)
	Courant	1.5A~3A

Pourquoi choisir nos sockets de test en caoutchouc ?

Nossockets de test élastomèresoffrent l'équilibre parfait entre performance, durabilité et facilité d'utilisation, garantissant des tests précis tout en protégeant vos circuits intégrés. Que vous ayez besoin de tests haute fréquence pour lesapplications 5G/RF, d'une sonde à pas ultra-fin ou d'une fiabilité de rodage à long terme, notre conceptionà contact doux et à faible entretienréduit les coûts et prolonge la durée de vie de votre configuration de test.

✔Aucun dommage aux billes de soudure ou aux pastilles – La distribution précise de la force protège vos circuits intégrés
✔Longue durée de vie – Plus de 100 000 cycles de test avec une dégradation minimale des performances
✔Entretien facile – Remplacez les broches de contact en quelques minutes, aucun outil spécial requis
✔Haute fréquence possible – Intégrité du signal fiable jusqu'à25 GHz
✔Compatibilité universelle – Fonctionne avecBGA, QFN, CSP, PoP et plus

Besoin d'une solution personnalisée ?Contactez-nous dès aujourd'hui pour discuter de vos besoins en matière de tests de circuits intégrés—nous sommes spécialisés dans lesconceptions de sockets de test sur mesurepour les applications de semi-conducteurs avancées.

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