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Testeur de dureté économique portable Leeb avec dispositif d'impact D
Une brève introduction
Le testeur de dureté portable Leeb SHL-140 peut mesurer directement les valeurs de dureté Rockwell (HRC, HRB), Leeb (HL), Brinell (HB), Vickers (HV), Shore (HS).Conforme aux normes internationales et aux spécifications du testeur de dureté de Leeb ZBN71010-1990 promulguées par le ministère de l'Industrie des machines, "Méthode d'essai de dureté des métaux GB/T 17394-1998" promulguée par le Bureau d'État de la qualité et de la supervision technique, et la norme de testeur de dureté de Leeb JB/T9378-2001 et d'autres normes.
Le SHL-140 peut être équipé de corps d'impact de type D et de type DL, ce qui permet une portabilité maximale tout en offrant une fonction à double usage puissante qui facilite grandement l'utilisateur.Conception à très faible consommation, utilisant une batterie au lithium haute performance pour obtenir un long temps de travail et de veille, une conception plus compacte et flexible augmente la flexibilité d'utilisation.
Selon le principe de mesure de la dureté du Leeb, la détection de haute précision de divers matériaux métalliques est possible.lors de l'essai de l'échantillon "acier forgé" avec un dispositif d'impact de type D/DCIl est pratique de passer à tous les systèmes de dureté (HL, HB, HRB, HRC, HRA, HV, HS) et de convertir les valeurs de dureté en parallèle.
Caractéristiques:
| Affichage | Affichage en anglais complet, fonctionnement de type menu, fonctionnement simple et pratique. Écran LCD OLED, facile à utiliser dans n'importe quel environnement. |
| Fonction de mesure | Un moteur principal peut être équipé de 7 dispositifs d'impact différents. Il n'a pas besoin de se réétaler lors du remplacement et identifie automatiquement le type de dispositif d'impact. |
| Le stockage des données | Il peut stocker 48 ~ 350 groupes (impact fois 32 ~ 1) valeur de mesure unique, valeur moyenne, date de mesure, direction d'impact, fréquence, matériau, système de dureté, etc. |
| Sortie d'alarme | Les limites supérieures et inférieures des valeurs de dureté peuvent être définies à l'avance, l'alarme automatique est hors de portée et il est pratique pour les utilisateurs de tester en lots. |
| Étalonnage | Il a pour fonction de calibrer le logiciel de valeur. |
| Batterie | La source d'alimentation est équipée de 2 piles alcalines AA (n° 5) et peut fonctionner en continu pendant au moins 100 heures.avec des fonctions d'économie d'énergie automatiques telles que l'hibernation automatique et l'arrêt automatique. |
Paramètres techniques:
Erreur d'indication et répétabilité
| Nom de l'article | Type de dispositif d'impact | Valeur de dureté de la norme Bloc de dureté de Leeb |
Erreur d'indication | Répétabilité des indicateurs |
| 1 | D |
760 ± 30 HLD 530 ± 40HLD |
± 5 HLD ±8 HLD |
5 HLD 8 HLD |
| 2 | DC |
760 ± 30HLDC 530 ± 40HLDC |
± 5 HLDC ± 8 HLDC |
5 HLD 8 HLD |
| 3 | DL |
878 ± 30HLDL 736 ± 40HLDL |
± 10 HLDL | 10 HLDL |
| 4 | D+15 |
766±30HLD+15 544±40HLD+15 |
±10 HLD+12 | 10 HLD+12 |
| 5 | G |
590 ± 40 HLG 500 ± 40 HLG |
± 10 HLG | 10 HLG |
| 6 | E |
Le nombre d'heures d'essai est le suivant: 508 ± 40HLE |
± 10 HLE | 10 HLE |
| 7 | C |
822 ± 30 HLC 590 ± 40HLC |
± 10 HLC | 10 HLC |
Paramètres généraux:
| Plage de mesure | HLD (170 à 960) HLD |
| Direction de mesure | 360° |
| Système de dureté | Leeb, Brinell, Rockwell A, Rockwell B, Rockwell C, Vickers et Shore, dont le siège social est à New York. |
| Affichage | OLED, graphique LCD à matrice de points 128×32 |
| Le stockage des données | Groupe 48 ¢350 (coefficient d'impact 32 ¢1) |
| Plage de réglage des limites | Même que la plage de mesure |
| Batterie | Batterie alcaline de 3 V (1200 mAh) |
| Température ambiante | 0 ̊40°C |
| Température de stockage | -25 à 70°C |
| Temps de travail continu | Environ 40 heures. |
| Les dimensions | 148 × 71 × 33 mm (partie principale) |
| Le poids | Environ 165 g (partie principale) |
Configuration standard:
| La partie principale | 1 |
| Dispositif d'impact de type D | 1 |
| Petite bague de support | 1 |
| Pinceau en nylon (I) | 1 |