DONGGUAN LONROY EQUIPMENT CO LTD
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Instrument de diffraction de bureau Diffractomètre XRD de paillasse de haute qualité
1. Présentation du produit
Conçu pour la production industrielle et le contrôle qualité, technologie de pointe pour la production de diffractomètres à rayons X concentrés, diffractomètres à rayons X de paillasse fonctionnels et miniaturisés. Il peut effectuer avec précision une analyse qualitative, une analyse quantitative et une analyse de la structure cristalline sur des échantillons métalliques et non métalliques. Il est particulièrement adapté aux industries manufacturières de produits tels que les catalyseurs, le dioxyde de titane, le ciment et les produits pharmaceutiques.
2. Paramètre du produit
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Puissance de fonctionnement |
600W (40kV, 15mA) ou 1600W (40kV, 40mA), stabilité : < 0,005 % |
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Tube à rayons X |
Tube à rayons X en céramique métallique, cible Cu, puissance 2,4 KW, taille du foyer : 1H)mm10 mm, refroidi par air ou refroidi par eau (débit d'eau supérieur à 2,5 L/min) |
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Goniomètre |
La technologie de codage optique au niveau de l'échantillon et les servomoteurs sont adoptés pour entraîner la rotation de θs et θd |
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Méthode de mesure |
Continue, pas à pas, Omg |
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Plage de mesure angulaire |
- 3 °- 150 ° |
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Largeur de pas minimale |
0,0001 ° |
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Reproduction angulaire |
0,0005 ° |
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Vitesse de positionnement angulaire |
1500°/min |
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Détecteur |
Comptage numérique du traitement des impulsions ou détecteur à réseau semi-conducteur |
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Débit de comptage |
1H)mm107CPS, 9H)mm107CPS |
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Résolution du spectre énergétique |
0,5 %25 % ou 0,5 %1 keV |
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Ordinateur |
Ordinateur portable professionnel |
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Logiciel de contrôle de l'instrument |
Système d'exploitation Windows10, contrôle automatiquement la tension du tube, le courant du tube, l'interrupteur photoélectrique et le vieillissement du tube à rayons X du générateur de rayons X. Contrôlez le goniomètre pour balayer en continu ou par étapes, et collectez simultanément les données de diffraction. Traitement conventionnel des données de diffraction : recherche automatique des pics, recherche manuelle des abeilles, intensité d'intégration, hauteur des pics, centre de gravité, soustraction du fond, lissage, grossissement de la forme des pics, comparaison du spectre, etc. |
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Logiciel de traitement des données |
Analyse qualitative de phase, analyse à position fixe, Kα1, α2 exfoliation, ajustement du spectre complet, ajustement de la sélection des pics, calcul de la largeur à mi-hauteur et de la taille des grains, détermination de la cellule unitaire, calcul des contraintes de classe II, indexation des lignes de diffraction, traçage multiple, traçage 3D, étalonnage des données de diffraction, soustraction du fond, analyse quantitative sans étalonnage, ajustement du spectre complet (WPF), simulation du spectre de diffraction XRD et autres fonctions. |
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Protection contre les lignes diffusées |
Plomb + protection en verre au plomb, la fenêtre de la porte de lumière est connectée au dispositif de protection, et la ligne de diffusion est calculée à ne pas dépasser 1μSv/hStabilité globale de l'instrument |
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≤ |
0,5 %Données d'adoucissement unique de l'échantillon |
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Configurez le changeur d'échantillons, avec un maximum de 6 échantillons chargés à chaque fois |
Dimensions externes de l'instrument |
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580 |
×H)mm×H)mm×H)mm×H)mm |