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Puce de mémoire flash équipement de test intelligent taille compacte

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Puce de mémoire flash équipement de test intelligent taille compacte

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Number modèle :HD-N8-NAND
Point d'origine :La Chine
Quantité d'ordre minimum :1set
Conditions de paiement :L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union, MoneyGram
Capacité d'approvisionnement :150 ensembles/mois
Délai de livraison :8 jours après ordre
Détails de empaquetage :Cas en bois fort
Gamme de température de fonctionnement :-30ºC~150ºC
Température ambiante de température de stockage :-20ºC~60ºC
Humidité relative fonctionnante :45%~75%
Taille d'équipement :W400×H510×D520mm
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Système de test intelligent de puce de mémoire flash

Description du produit:

  1. Le système de test intelligent YC-N8-NAND est un système de test de mémoire flash complet qui peut être personnalisé pour tester jusqu'à 8 particules flash en parallèle.
  2. Il prend en charge une large gamme de modèles de test et de paramètres de test personnalisés.Il fournit un flux de test de base en un clic, un test expérimental hautement flexible et un flux de test avancé, et peut Il fournit un flux de test de base en un clic, un test expérimental hautement flexible et un flux de test avancé, qui peut réaliser divers tests fonctionnels tels que la durée de vie restante la prédiction, le test réel, la rétention des données et la lecture des perturbations des particules de mémoire flash.Le rapport de test peut être exporté rapidement et facilement une fois le test terminé.Il fournit les données de test graphiques les plus intuitives pour fournir la référence la plus précise pour la classification et l'application des particules flash.Il fournit également la référence la plus précise pour la classification et l'application des particules flash et permet un classement intelligent basé sur les résultats des tests de qualité des particules flash.


Spécifications du produit:

  1. Testé par JEDEC Stand No. 218 : Solid State Technology Association B-2016 Exigences relatives aux disques SSD (Solid-State Drive) et test d'endurance Motho ;
  2. Base de test suivant la norme JEDEC n° 47 NVCE : Solid State Technology Association Stress-TestDriven Qualification of Integrated Circuits ;
  3. Spécifications de conception de la carte de test pour répondre aux exigences de l'environnement de température de test de qualité industrielle ;


Spécifications techniques:

Propriétés physiques
Taille de l'équipement L400×H510×P520mm
Méthode d'alimentation CA
Plage de tension de fonctionnement AC(220±10%)V monophasé 2 fils + terre de protection
Consommation d'énergie de travail normale 2KW
Plage de température de fonctionnement -30ºC~150ºC
Plage de température de stockage -20ºC~60ºC
Plage d'humidité de fonctionnement 45 % ~ 75 %
La performance du système
Nombre de particules pouvant être testées en parallèle 1 ~ 8 pièces
Marques flash prises en charge pour les tests SLC, MLC, TLC, Sandisk, etc. de Micron, Intel, YMTC, Hynix, Toshiba, Sandisk, etc., particules de puce Flash NAND de type QLC (la gamme est en cours d'extension)
Tailles d'emballage prises en charge BGA152, BGA132 (extensions personnalisées disponibles)
Types de protocole Flash pris en charge Particules d'interface ONFI/bascule
Tension prise en charge Prise en charge matérielle V1.2, V1.8 en option
Plage d'extraction de tension prise en charge Le support logiciel peut être affiné vcc2.3 ~ 3.6
vccq1.2 1.15~1.25
vccq1.8 1.70~1.95
Prend en charge les plages de test en option Réglages individuels pour le nombre de blocs de démarrage, l'intervalle inter-blocs, le nombre de cycles, la durée du test, etc.
Modèle de soutien Tout 0, tout 1, tout 5, pseudo-aléatoire, grille en damier, ligne de mots aléatoire, etc.
Prise en charge des types de commandes de test Inspection des informations de la mémoire flash
Test des performances de la mémoire flash
Test de vie et prédiction
Classification de classe de qualité
Test d'interférence de données
Test de conservation des données
Fonctionnalité de lecture-réessai
Tests à vie et prédiction
Personnalisation ECC
Vitesse de test parallèle À titre d'exemple d'un test de base de granulés wellington à longue durée de vie :
Mode équilibré : 128 Go * 8 pastilles env.1 heure
Mode complet : 128 Go * 8 pastilles env.2 heures
Mode haute vitesse : 128 Go * 8 pastilles env.20 minutes
Module de test intelligent Essais de base
Essais expérimentaux
Essais avancés


Présentation de notre société :
HAIDA INTERNATIONAL est un fabricant professionnel de divers types d'équipements de test sur 24 ans.Les produits HAIDA sont largement utilisés dans les produits en papier, les emballages, l'impression à l'encre, les rubans adhésifs, les sacs, les chaussures, les produits en cuir, l'environnement, les jouets, les produits pour bébés, le matériel, les produits électroniques, les produits en plastique, les produits en caoutchouc et d'autres industries, et applicables à tous les scientifiques unités de recherche, institutions de contrôle de la qualité et domaines académiques.

Puce de mémoire flash équipement de test intelligent taille compacte

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