Les microscopes optiques métallographiques permettent à l'utilisateur de regarder les articles opaques au rapport optique élevé avec la lumière réfléchie et transmise, qui sont employés pour un grand choix d'applications de spécialité telles que la fabrication de gaufrette de silicium de semi-conducteur, l'inspection et le contrôle de qualité comme l'inspection du grosseur du grain, les inclusions et les défauts extérieurs, la cristallographie, et l'analyse des moulages au sable dans des fonderies en métal de fer.
Ils peuvent également être employés pour l'analyse et l'identification métallique de microstructure de grain, la mesure des couches minces, les revêtements de galvanoplastie, l'analyse au microscope des surfaces opaques, l'étude des outils préhistoriques et des objets façonnés d'âge de pierre, la conservation historique, l'étude de la métallurgie, et analyse de patine en métal.
Nos microscopes métallurgiques sont disponibles dans binoculaire et les modèles trinocular avec les systèmes droits, inversé et de boom de support de microscope, alors que le microscope optique métallurgique de laboratoire de la série NCM-J8000 comprenant le système d'observation de champ lumineux, de champ foncé et de polarisation, transmis de caractéristiques et reflété système puissant avec l'illumination de kohler, il est instrument idéal pour l'inspection d'industrie et la recherche de la science. |
| | NCM-J8000R | NCM-J8000TR | NCM-J8200R | NCM-J8200TR | | Système optique | Système optique infini | ● | ● | ● | ● | | Oculaire | Oculaire large EW10×/22 de champ d'Extral | ● | ● | ● | ● | Plan infini
Achromatique
Objectif | 5×/0,12/∞/- (FB) | ● | ● | | | | 10×/0,25/∞/- (BF/DF) | ● | ● | ● | ● | | 20×/0,4/∞/0 (BF/DF) | ● | ● | ● | ● | | 50×/0,75/∞/0 (FB) | ● | ● | | | | 100×/0,8/∞/0 (FB) | ● | ● | | | | 40×/0,65/∞/0,17 | | ● | | ● | | 100×/1,25/∞/0,17 | | ● | | ● | | 5×/0,12/∞/- (BF/DF) | ○ | ○ | ● | ● | | 40×/0,6/∞/0 (BF/DF) | ○ | ○ | ○ | ○ | | 50×/0,75/∞/0 (BF/DF) | ○ | ○ | ● | ● | | 100×/0,8/∞/0 (BF/DF) | ○ | ○ | ● | ● | | DIC | 20×, 100× | | | ○ | ○ | Maximum
Taille d'échantillon | 30mm | | ● | | ● | | 50mm | ● | | ● | | | Tête de visionnement | Tête trinocular de visionnement de Siedentopf, inclinée à 30°, distance interpupillarty 48mm-75mm | ● | ● | ● | ● | | Lumière d'incident | Lumière de l'halogène 24V/100W, légèreté réglable | ● | ● | ● | ● | | Illumination de Kohler et condensateur asphérique | ● | ● | ● | ● | | Polariseur et analyseur | ○ | ○ | ○ | ○ | | Un polariseur et un analyseur d'ennemi de dispositif d'intégration | ○ | ○ | ○ | ○ | | Verre bleu, vert, jaune et dépoli | ● | ● | ● | ● | Transmis
lumière | Condensateur NA0.9/0,25 d'oscillation- | | ● | | ● | | 24V/ lumière de l'halogène 100W et condensateur asphérique | | ● | | ● | | Filtre bleu | | ● | | ● | | Filtre | ND25, ND6 | ○ | ○ | ○ | ○ | | Focalisation | Brut coaxial et ajustement précis, division fine 1μm | ● | ● | ● | ● | | Nosepiece | Nosepiece quintuple arrière | ● | ● | ● | ● | | Étape | Étape mécanique non poreuse 186X138mm/74mmX50mm de double couche | ● | | ● | | | Étape mécanique 186×138mm/74mm×50mm de double couche | | ● | | ● | | Plat en verre de préparation de specimens | ○ | ○ | ○ | ○ | | Plat de préparation de specimens | | ● | | ● | | Verre de glissière | | ● | | ● | | Spécimen Presser | | ○ | ○ | ○ | ○ | | Attachement de photo | | ○ | ○ | ○ | ○ | | Attachement visuel | Bâti 1×, 0.5× de C | ○ | ○ | ○ | ○ |
| Note : équipement de ●Standard, ○Optional |
Spécimen facultatif Presser :
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Échantillons :
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