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Appareil de contrôle non ferreux d'épaisseur de film de sonde avec la fonction d'arrangement de limite

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Appareil de contrôle non ferreux d'épaisseur de film de sonde avec la fonction d'arrangement de limite

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Number modèle :Leeb252A
Point d'origine :La Chine
Quantité d'ordre minimum :1 ensemble
Conditions de paiement :T/T, Paypal, Western Union, L/C
Capacité d'approvisionnement :500 ensembles par mois
Délai de livraison :En 7-10 jours de travail
Détails de empaquetage :Boîte d'équipement
Nom :Mesure d'épaisseur de film
Application :sur le métal ferreux et non ferreux
Principe :Méthode magnétique et de courant de Foucault
Sonde :Variable
Résolution (µm) :0,1
Mémoire :200 groupes
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Appareil de contrôle non ferreux d'épaisseur de film de sonde avec la fonction d'arrangement de limite

 

Fonction d'arrangement en plastique variable de limite de Shell Coating Thickness Gauge With de sonde ferreuse et non ferreuse

 

 
Fonctions et caractéristiques
 

Sondes de haute qualité en métal.
●Deux méthodes de mesure : continu et simple ;
●Mode deux fonctionnant : direct et groupe ;
●Fonction d'arrangement de limite.
●Commutateur automatiquement ou manuellement.

 

 

Matériaux de mesure
 
Eddy Current (NFe) : Mesurant l'épaisseur du revêtement non-conducteur sur le substrat non magnétique en métal, tel que le caoutchouc, plastique, peinture, oxyde sur la base de l'aluminium, cuivre, zinc, étain.

 


Paramètres techniques

 

Paramètres techniques
Modèle non. Leeb252A
Principe de mesure
Fe ou NFe
Chaîne de mesure (µm) 0~1250μm
Sonde
Variable
Shell Plastique
Exactitude ± (1~3%H+1) μm ; H se rapporte à l'épaisseur du morceau d'essai
Résolution minimum (µm) 0.1μm
Courbure minimum du secteur minimum (millimètres) Convex1.5 Concave9
Diamètre du secteur minimum (millimètres) Φ7
Épaisseur critique du substrat (millimètres) 0,5
Mémoire 200 groupes ont mesuré des données
Dimensions 115*55*23mm
Alimentation d'énergie
Accumulateur alcalin de D.C.A.
Configuration standard
Unité principale, 1 sonde et substrat
5 spécimens de calibrage (48.5μm, 99.8μm, 249μm, 513μm 1024μm),
Accessoires facultatifs
Sondes, spécimens, 1 gaine en cuir

 

 
Conditions de mesure
 
a) Les caractéristiques du substrat
Les méthodes standard pour le substrat magnétique des propriétés magnétiques et l'aspérité devraient être semblables aux propriétés magnétiques et à l'aspérité du substrat de spécimens.
Pour la méthode de courant de Foucault, le substrat standard des propriétés électriques devrait être semblable aux propriétés électriques du substrat de spécimens.
b) L'épaisseur du substrat
Vérifiez si l'épaisseur du substrat est inférieure que l'épaisseur minimum, sinon, peut employer un de la méthode dans 3,3 pour calibrer.
c) Effet de bord
Ne devrait pas être dans les endroits le changement de forme de spécimen, tels que des bords, des trous, et l'endroit tel que la mesure d'angle.
d) La courbure
Ne devrait pas être dans la mesure extérieure incurvée des spécimens.
e) Mesure et périodes mesurées
Habituellement en raison de la mesure d'instrument le résultat n'est pas identique chaque fois, ainsi nous devons dans chaque secteur de plusieurs résultats de mesure. L'épaisseur de revêtement et le degré approximatif extérieur de différences locales, exigent à toutes les mesures répétées dans un secteur spécifique.
propreté extérieure de f)
Avant la mesure, devraient enlever attaché sur la surface d'un matériel, tel que la poussière, la graisse et les produits de corrosion, mais n'enlèvent pas n'importe quel matériel de couvert.

 


Boîte de haute qualité d'équipement :
 
Appareil de contrôle non ferreux d'épaisseur de film de sonde avec la fonction d'arrangement de limite
 
 

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