Groupe de ZEIT
Pursuing Excellence without Limits！
Add to Cart
Équipement de détection de biréfringence de stress UV
Applications
| UV-ultraviolet | Semi-conducteur |
| Fabricant de matières premières de source lumineuse |
Principe de fonctionnement
Dans le processus de mesure, nous pouvons mesurer l'échantillon en vue une fois pour maîtriser pleinement la répartition des contraintes.
Quantifier les résultats de mesure par des graphiques en deux dimensions.
Fonctionnalités
| Modèle |
SBD-UV-X—X |
| Mode travail | Mesure en temps réel |
| Fonction | Amplitude des contraintes, répartition des contraintes |
| Bande d'onde de détection | VIS-520nm, 590nm, 650nm |
| Plage d'essai | 1~110nm& 1~280nm |
| Résolution spatiale | 0,05 mm |
| Répétabilité des tests | 0,1 nm |
| Fréquence de mesure | >15FPS |
|
Remarque : production personnalisée disponible. |
|
Images de détection
Nos avantages
Nous sommes fabricant.
Processus mature.
Réponse dans les 24 heures ouvrables.
Notre certification ISO
Certaines parties de nos brevets
Parties de nos récompenses et qualifications de R&D