Capteurs de silicium amorphe Détecteur à panneau plat DR dynamique et tests non destructifs

Numéro de modèle:H4343HDA-AG
Lieu d'origine:Chine
Quantité minimale de commande:1
Détails de l'emballage:Emballage en carton standard d'exportation
Matériel:un capteur de silicium amorphe
température:10 à 35°C (opérationnel); 10 à 50°C (entreposage)
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Adresse: 7e étage, Bâtiment B Chengyuan, le Mid. Route de Jiancaicheng Dist.BeiJing Haidian, 100096 CHINE
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Capteurs de silicium amorphe Détecteur panneau plat DR dynamique et tests non destructifs

 

H4343HDA-AG est un détecteur de poids léger base de silicium amorphe ((a-Si), adapté divers domaines tels que le DR dynamique et les essais non destructifs.

 

Capteur
Recepteur de type a-Si

Scintilleur Gos / CsI:TI

Zone active 430 x 430 mm

Résolution 3072x 3072

Pixel Pitch 139 μm

 

Appareil électrique et batterie

Adaptateur en courant alternatif 100-240V,50-60Hz

Adaptateur de sortie DC 24V,2.7A

Dissipation de puissance < 20 W

 

Qualité de l'image
Résolution limitante 3,5 LP/mm

Plage d'énergie 40 160 KV

Dimension dynamique ≥ 84 dB

Sensibilité ≥ 0,54 LSB/nGy

Ghos < 1% 1ère image

DQE 42% @(1 LP/mm)

28% @ ((2 LP/mm)

Le taux de conversion est le même que pour les autres types de produits.

38% @ ((2 LP/mm)

20% @ ((3 LP/mm)

 

Appareils électriques et interface
Conversion A/D 16 bits

Interface de données Gigabit Ethernet

Taux d'images 1x1 4fps/2x2 15fps/3x3 25fps

Contrôle de l'exposition en cours libre/SYNC acquisition

 

Les appareils électroménagers
Dimension 460 × 460 × 14,8 mm
Poids 3,8 kg

Matériau Alliages d'aluminium et de magnésium

Panneau avant en fibre de carbone

 

Environnementale

Température de 10 35°C (opérationnelle); de 10 50°C (entreposage)

Humidité de 30 70% RH (sans condensation)

Protection contre les intrusions IP51

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Capteurs de silicium amorphe Détecteur à panneau plat DR dynamique et tests non destructifs

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