139 microns Silicium amorphe A-Si courbé A-Si DR Épreuve non destructive

Numéro de modèle:H3543HWF-AG, sous réserve de la teneur en dioxyde de carbone
Lieu d'origine:Chine
Quantité minimale de commande:1
Détails de l'emballage:Emballage en carton standard d'exportation
Matériel:un capteur de silicium amorphe
Température:10 à 35°C (opérationnel); 10 à 50°C (entreposage)
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Beijing Beijing
Adresse: 7e étage, Bâtiment B Chengyuan, le Mid. Route de Jiancaicheng Dist.BeiJing Haidian, 100096 CHINE
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139 microns Silicium amorphe A-Si courbé A-Si DR et tests non destructifs

 

H3543HWF-AG Il s'agit d'un détecteur plat sans fil portable basé sur un capteur de surface en silicium amorphe, adapté l'inspection des pipelines, l'inspection industrielle, aux essais non destructifs et d'autres domaines

 

Capteur
Recepteur de type a-Si

Scintilleur Gos

Zone active 350 x 430 mm

Résolution 2560 x 3072

Pixel Pitch 139 μm

Appareil électrique et batterie

Adaptateur en courant alternatif 100-240V,50-60Hz

Adaptateur de sortie DC 24V,2.7A

Dissipation de puissance < 20 W

Durée de fonctionnement de la batterie 6,5 h

Temps de charge 4,5 heures

 

Qualité de l'image
Résolution limitante 3,5 LP/mm

Plage d'énergie 40 350 KV

Dimension dynamique ≥ 84 dB

Sensibilité ≥ 0,54 LSB/nGy

Ghos < 1% 1ère image

DQE 42% @(1 LP/mm)

28% @ ((2 LP/mm)

Le taux de dépôt de l'échantillon est le même que celui de l'échantillon.

38% @ ((2 LP/mm)

20% @ ((3 LP/mm)

 

Appareils électriques et interface
Conversion A/D 16 bits

Interface de données Gigabit Ethernet/802.11ac 5G

Temps d'acquisition cblé: 1s; sans fil: 2s

Logiciel de contrôle de l'exposition/extérieur

Mémoire intégrée 4 Go DDR4, 8 Go carte SD

 

Les appareils électroménagers
Dimension 583 x 437 x 21,8 mm
Poids 4,5 kg

Matériau Alliages d'aluminium et de magnésium

Panneau avant en fibre de carbone

 

Environnementale

Température de 10 35°C (opérationnelle); de 10 50°C (entreposage)

Humidité de 30 70% RH (sans condensation)

Protection contre les intrusions IP54

China 139 microns Silicium amorphe A-Si courbé A-Si DR Épreuve non destructive supplier

139 microns Silicium amorphe A-Si courbé A-Si DR Épreuve non destructive

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