Laboratoire de microscope électronique à balayage d'étape à cinq axes avec pistolet à électrons chauffé au tungstène
Numéro de type:A63.7062
Point d'origine:La Chine
Quantité d'ordre minimum:1 pc
Conditions de paiement:T / T, union occidentale, Paypal
Capacité d'approvisionnement:mois de 5000 PCs
Délai de livraison:5 ~ 20 jours
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Beijing Beijing China
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Plaza de F-1501 Wanda, route de no. 18 Shijingshan, Pékin 100043, Chine
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Détails du produit
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SEM ♦Afforadable
panneau ♦English d'opération
ensemble de ♦Full de logiciel automatisé
service de ♦Modification disponible
♦Bestseller SEM
La microscopie électronique de balayage (les PSEM) convient l'observation de la topographie extérieure des métaux, de la céramique, des semi-conducteurs, des minerais, de la biologie, des polymères, des composés et des matériaux unidimensionnels, bidimensionnels et tridimensionnels de nano-échelle (image d'électron secondaire, image d'électron rétrodiffusée). Elle peut être employée pour analyser les composants de point, de ligne et de surface du microregion. Elle est très utilisée dans le pétrole, la géologie, le domaine minéral, l'électronique, le gisement de semi-conducteur, la médecine, le champ de biologie, l'industrie chimique, le domaine des matériels de polymère, l'enquête criminelle de la sécurité publique, l'agriculture, la sylviculture et d'autres champs.
| Filament SEM de tungstène d'A63.7062 Eco | ||
| Résolution | 4.5nm@30KV (SE) ; 6nm@30KV (ESB) | |
| Rapport optique | Rapport optique négatif : 15x~250000x ; Rapport optique d'écran : 30x~500000x | |
| Canon électronique | Cartouche de filament de tungstène centrée par cathode-Pré passionnée de tungstène | |
| Tension de accélération | 0~30KV | |
| Système de lentille | Lentille électromagnétique trois nivaux (lentille conique) | |
| Ouverture objective | Ouverture de molybdène réglable en dehors du système de vide | |
| Étape de spécimen | Étape de cinq haches | |
| Chaîne de voyage | X (automobile) | 0~50mm |
| Y (automobile) | 0~50mm | |
| Z (manuel) | 0~25mm | |
| R (manuel) | 360º | |
| T (manuel) | -5º~90º | |
| Max Specimen Diameter | 150mm | |
| Détecteur | Détecteur électronique secondaire de vide poussé (avec la protection de détecteur) | |
| Modification | Hausse d'étape ; EBL ; STM ; AFM ; Étape de chauffage ; Étape de Cryo ; Étape de tension ; manipulateur de Micro-nano ; Machine de SEM+Coating ; SEM+Laser | |
| Accessoires | CCD, laboratoire6, détecteur de rayon X (EDS), EBSD, CL, WDS, machine de revêtement | |
| Système de vide | Pompes moléculaires de Turbo ; Pompe de rotation | |
| Courant de faisceau d'électrons | 10pAt~0.1μA | |
| PC | Dell Work Station adapté aux besoins du client | |
Cartouche de filament de tungstène centrée par cathode-Pré passionnée de tungstène
La lentille électromagnétique dans ce cylindre
La valve de isolement s'assure que le vide supérieur n'est pas affecté quand la salle témoin est ouverte
Ouverture objective
L'échantillon être le besoin observé de mettre DANS la salle témoin
Étape de cinq haches, contrôle motorisé par X/Y (petit)
| Consommables | ||||
| Nom | Spécifications | Quantité | Unité | |
| 1 | Filament centré de cartouche | 5 | placez | |
| 2 | Tasse de spécimen | (φ13) | 10 | PCs |
| 3 | Tasse de spécimen | (φ32) | 10 | PCs |
| 4 | Bande conductrice de carbone (double côté) | 6mm | 1 | PC |
| 5 | Graisse de vide | 1 | Bouteille | |
| 6 | Chiffon non pelucheux | 20 | PCs | |
| 7 | Conduit-tuyau | 5 | mètre | |
| 8 | Pte de polissage | 1 | placez | |
| Outils | ||||
| Nom | Quantité | Unité | ||
| 1 | Clé Allen | 1 | placez | |
| 2 | Bton propre | 1 | PC | |
| 3 | Dépassé | 1 | PC | |
| 4 | Ouverture enlevant l'outil | 1 | PC | |
| 5 | Brucelles | 1 | PC | |
| 6 | Tournevis | 2 | PCs | |
Détecteur électronique secondaire de vide poussé
Interface accessoire facultative de connexion
A63.7062 fenêtre de soutien trois synchrone, deux Chanel (SE+BSE) avec la fenêtre de CCD ; Résolution d'image : Pixels 4096*4096
Laboratoire de microscope électronique à balayage d'étape à cinq axes avec pistolet à électrons chauffé au tungstène
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