4.5 - topographie extérieure Eco les PSEM de haut du rapport optique 6nm de balayage électron de microscope

Numéro de type:A63.7062
Point d'origine:La Chine
Quantité d'ordre minimum:1 pc
Conditions de paiement:T / T, union occidentale, Paypal
Capacité d'approvisionnement:mois de 5000 PCs
Délai de livraison:5 ~ 20 jours
Contacter

Add to Cart

Fournisseur Vérifié
Beijing Beijing China
Adresse: Plaza de F-1501 Wanda, route de no. 18 Shijingshan, Pékin 100043, Chine
dernière connexion fois fournisseur: dans 1 heures
Détails du produit Profil de la société
Détails du produit

4.5 - topographie extérieure élevée Eco SEM de microscope balayage électronique du rapport optique 6nm

 

 

La microscopie électronique de balayage (les PSEM) convient l'observation de la topographie extérieure des métaux, de la céramique, des semi-conducteurs, des minerais, de la biologie, des polymères, des composés et des matériaux unidimensionnels, bidimensionnels et tridimensionnels de nano-échelle (image d'électron secondaire, image d'électron rétrodiffusée). Elle peut être employée pour analyser les composants de point, de ligne et de surface du microregion. Elle est très utilisée dans le pétrole, la géologie, le domaine minéral, l'électronique, le gisement de semi-conducteur, la médecine, le champ de biologie, l'industrie chimique, le domaine des matériels de polymère, l'enquête criminelle de la sécurité publique, l'agriculture, la sylviculture et d'autres champs.

Description de produit

 

Filament SEM de tungstène d'A63.7062 Eco
Résolution4.5nm@30KV (SE) ; 6nm@30KV (ESB)
Rapport optiqueRapport optique négatif : 15x~250000x ; Rapport optique d'écran : 30x~500000x
Canon électroniqueLa cathode-Pré passionnée de tungstène a centré le filament Carteidge de tungstène
Tension de accélération0~30KV
Système de lentilleLentille électromagnétique trois nivaux (lentille conique)
Ouverture objectiveOuverture de molybdène réglable en dehors du système de vide
Étape de spécimenÉtape de cinq haches
Chaîne de voyageX (automobile)0~50mm
Y (automobile)0~50mm
Z (manuel)0~25mm
R (manuel)360º
T (manuel)-5º~90º
Max Specimen Diameter150mm
DétecteurDétecteur électronique secondaire de vide poussé (avec la protection de détecteur)
ModificationHausse d'étape ; EBL ; STM ; AFM ; Étape de chauffage ; Étape de Cryo ; Étape de tension ; manipulateur de Micro-nano ; Machine de SEM+Coating ; SEM+Laser
AccessoiresCCD, laboratoire6, détecteurderayon X(EDS), EBSD, CL, WDS, machinederevêtement
Système de videPompes moléculaires de Turbo ; Pompe de rotation
Courant de faisceau d'électrons10pAt~0.1μA
PCDell Work Station adapté aux besoins du client

 

Affichage de produit

Accessoires facultatifs

 

 

L'information de l'entreprise

 

OPTO-EDU est un du fournisseur professionnel supérieur pour le microscope de Chine, nous nous focalisons dans le microscope et le domaine éducatif pendant plus de 20 années. En tant que vendeur recommandé supérieur pour le microsocpe sur l'alibaba, nous avons de pleins types microscopes, y compris le microscope biologique, le microscope stéréo, le microscope métallurgique, le microscope inversé, le microscope fluorescent, le microscope de polarisation, le microscope de contraste de phase, le microscope de champ foncé, le microscope de multi-visionnement, le microscope de DIC, le microscope d'AFM/STM/SPM, le microscope de bourdonnement, le microscope de gemme, le micoscope numérique, le microscope d'affichage cristaux liquides, le microscope de comparaison, le microscope légal, et toutes sortes d'accessoires de microscope. Notre client vient de plus de 104 pays, tels que les Etats-Unis, la Grande-Bretagne, Russie, Canada, Allemagne, Danemark, Pologne, Suède, EAU., le Qatar, Arabie Saoudite, Egypte, Mexique, Argentine, Chili, Brésil, Corée, Thaïlande, Inde, Indonsia, Philliphine et ainsi de suite. Nous avions travaillé inlassablement pour assurer la production gentille de la qualité de la Chine au marché mondial !

 

China 4.5 - topographie extérieure Eco les PSEM de haut du rapport optique 6nm de balayage électron de microscope supplier

4.5 - topographie extérieure Eco les PSEM de haut du rapport optique 6nm de balayage électron de microscope

Inquiry Cart 0