A63.7006 Sem Scanning Electron Microscope 20x~60000x

Number modèle:A63.7006
Point d'origine:La Chine
Quantité d'ordre minimum:1 PC
Conditions de paiement:T/T, union occidentale, Paypal
Capacité d'approvisionnement:5000 mois de PCS/
Délai de livraison:5~20 jours
Contacter

Add to Cart

Fournisseur Vérifié
Beijing Beijing China
Adresse: Plaza de F-1501 Wanda, route de no. 18 Shijingshan, Pékin 100043, Chine
dernière connexion fois fournisseur: dans 1 heures
Détails du produit Profil de la société
Détails du produit

Microscope balayage électronique de filament de tungstène, Se, 20x~60000x

  • 20x~60000x résolution 15nm avec le Se de détecteur, ESB facultatif, EDS, CCD
  • X/Y/R standard 3 diminue l'étape fonctionnante, cinq haches facultatives fonctionnant l'étape X/Y/Z/R/T
  • condensateur électromagnétique en deux étapes, lentille 1-Stage objective électromagnétique
  • Système de vide : 1 pompe rotative mécanique de Turbo Pump+ 1 moléculaire
  • Le début automatique, foyer automatique, éclat automatique, contrastent s'ajustent












Microscope balayage électronique de filament de tungstène (SEM)
 A63.7006A63.7015
Résolution15nm@30KV (SE)5nm@30KV (ESB)
Rapport optique20x~60000x20x~150000x
Canon électroniqueCartouche Pré-centrée de filament de tungstène, système automatique de tension de polarisation
TensionTension de accélération 1KV 30KV,
Étapes 1KV/5KV/10KV/15KV/20KV/30KV-6
Système de lentillecondensateur électromagnétique en deux étapes,
lentille 1-Stage objective électromagnétique
Ouverture-Iris Diaphragm réglable 30/50/50/100um, électro poutre de changement pour obtenir l'image de haute résolution
Système de videPompe rotative, 100Liters/min
Pompe moléculaire de Turbo, 70Liters/sec
Pompe en bas de contrôle <3 Minutes="">entièrement automatique de vide de Ttime
DétecteurSe : Détecteur électronique secondaire
ESB : Détecteur arrière de dispersion (facultatif)
EDS : (Facultatif)
Étape fonctionnante de spécimensystème de 3 axes, X, axe des y : 35mm/R-axe : 360°5-axis système, X, axe des y : 35mm/R-axe : 360°, Z : 0~22mm/Inclinaison-axe : 0~45°
Max Specimen70mm de diamètre, 30mm dans la taille80mm de diamètre, 35mm dans la taille
Décalage imageX, décalage image de Y ±150um
Système de balayage d'imageBalayage rapide : 320x240 (temps de balayage : 0,1 sec.)
Balayage lent : 640x480 (temps de balayage : sec 3.)
Mode 1 de photo : 1280x960
Mode 2 de photo : 2560x1920
Mode 3 de photo : 5120x3840
Format d'imageBMP, JPEG, PNG, TIFF
Fonction automatiqueDébut automatique, foyer automatique, éclat automatique/contraste
Affichage de photoLe rapport optique, type de détecteur, tension de accélération, nettoient l'aspirateur le mode, logo (texte), date et le temps, textotent le marqueur, la barre d'échelle, etc.
Ordinateur et logicielSystème de la victoire 10 du poste de travail de PC, avec le logiciel d'analyse d'image professionnel pour commander entièrement SEM Microscope Operation entier, spécifications I5 pas moins qu'inter 3.2GHz, 4G mémoire, 24" d'ordinateur moniteur d'affichage cristaux liquides d'IPS, 500G disque dur, souris, clavier
Taille et poidsCorps de microscope 460x600x950mm, poids total 95Kg
Les outils A63.7006, A63.7015 et les pièces standard équipent
1Filament pré centré de tungstène5 PCs/boîte
2Diamètre 15mm d'étape témoin10 PCs
3Diamètre 25mm d'étape témoin10 PCs
4Inclinaison 45° du diamètre 15mm d'étape témoin5pcs
5Inclinaison du diamètre 15mm 90° d'étape témoin5pcs
6Maître standard de taille1 PC
7Allen Wrench1 ensemble
8CD de SEM Software1 PC
9Bande conductrice de carbone)1 PC
10Ciseaux1 PC
11Aurilave1 PC
12Brucelles1 PC

 


 
China A63.7006 Sem Scanning Electron Microscope 20x~60000x supplier

A63.7006 Sem Scanning Electron Microscope 20x~60000x

Inquiry Cart 0