Opto Edu A61.4510 mode courant de taille constante de microscope électronique de tunnel de balayage

Number modèle:A61.4510
Point d'origine:La Chine
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Microscope effet tunnel

  • Conception miniaturisée et détachable, très facile transporter et enseigner en classe
  • La tête de détection et l'étape de numérisation de l'échantillon sont intégrées, la structure est très stable et l'anti-interférence est forte
  • La méthode d'alimentation intelligente de l'aiguille de détection automatique en céramique piézoélectrique sous pression contrôlée par moteur protège la sonde et l'échantillon
  • Système d'observation CCD latéral, observation en temps réel de l'état d'insertion de l'aiguille de la sonde et positionnement de la zone de numérisation de l'échantillon de la sonde
  • Suspension ressort méthode antichoc, simple et pratique, bon effet antichoc

◆ Conception miniaturisée et détachable, très facile transporter et enseigner en classe


◆ La tête de détection et l'étape de numérisation de l'échantillon sont intégrées, la structure est très stable et l'anti-interférence est forte


◆ L'échantillon d'entraînement axe unique s'approche automatiquement de la sonde verticalement, de sorte que la pointe de l'aiguille soit perpendiculaire au balayage de l'échantillon


◆ La méthode d'alimentation intelligente de l'aiguille de détection automatique en céramique piézoélectrique sous pression contrôlée par moteur protège la sonde et l'échantillon


◆ Système d'observation CCD latéral, observation en temps réel de l'état d'insertion de l'aiguille de la sonde et positionnement de la zone de balayage de l'échantillon de la sonde


◆ Méthode antichoc suspension ressort, simple et pratique, bon effet antichoc


◆ Éditeur utilisateur de correction non linéaire du scanner intégré, caractérisation nanométrique et précision de mesure supérieure 98 %


A61.4510
En mode travailMode hauteur constante
Mode courant constant
Courbe du spectre actuelCourbe IV
Courbe courant-distance
Plage de balayage XY5×5um
Résolution de numérisation XY0,05 nm
Plage de balayage Z1um
Résolution de numérisation Y0,01 nm
Vitesse de numérisation0,1 Hz 62 Hz
Angle de balayage0~360°
Taille de l'échantillonΦ≤68mm
H≤20mm
Déplacement de scène XY15×15mm
Conception absorbant les chocsSuspension ressort
Système optiqueZoom continu 1 ~ 500x
ProductionUSB2.0/3.0
LogicielWin XP/7/8/10
MicroscopeMicroscope optiqueMicroscope électroniqueMicroscope sonde balayage
Résolution maximale (um)0,180,000110,00008
RemarqueImmersion dans l'huile 1500xImagerie des atomes de carbone du diamantImagerie d'atomes de carbone graphitiques d'ordre élevé
Interaction sonde-échantillonMesurer le signalInformations
ForceForce électrostatiqueForme
Courant tunnelCourantForme, conductivité
Force magnétiquePhaseStructure magnétique
Force électrostatiquePhaserépartition des charges
 RésolutionCondition de travailTempérature de travailDommage l'échantillonProfondeur d'inspection
MPSNiveau atomique 0,1 nmNormal, Liquide, VideChambre ou basse températureAucun1 ~ 2 niveau d'atome
TEMPointe 0,3 ~ 0,5 nm
Réseau 0,1 ~ 0,2 nm
Vide pousséTempérature ambiantePetitHabituellement <100nm
MEB6-10nmVide pousséTempérature ambiantePetit10mm @10x
1um @10000x
FIMNiveau atomique 0,1 nmSuper haut vide30~80KDommageÉpaisseur d'atome

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