Microscope optique + atomique de force, tout-en-un

◆Conception intégrée de microscope métallographique optique et de microscope atomique de force, fonctions puissantes

◆Il a le microscope optique et les fonctions atomiques de représentation de microscope de force, qui peuvent fonctionner en même temps sans s'affecter

◆En même temps, il a les fonctions de la 2D mesure optique et de la mesure atomique du microscope 3D de force

• ◆La tête de détection laser et l'étape de balayage d'échantillon sont intégrées, la structure est très stable, et l'anti-parasitage est fort

  ◆Le dispositif de mise en place de sonde de précision, ajustement d'alignement de tache laser est très facile

• ◆L'échantillon d'entraînement de simple-axe approche automatiquement la sonde verticalement, de sorte que l' bec soit perpendiculaire au balayage d'échantillon

  ◆La méthode de alimentation d'aiguille intelligente de détection automatique en céramique piézoélectrique pressurisée contrôlée par le moteur protège la sonde et l'échantillon

• ◆Système de positionnement optique de rapport optique ultra-haut pour réaliser le positionnement précis du secteur de balayage de sonde et d'échantillon

  ◆Rédacteur non linéaire intégré d'utilisateur de correction de scanner, nanomètre

• Spécifications	A62.4500	A622.4501	A62.4503	A62.4505
  Mode de travail	Mode de tapement [Facultatif] Mode de contact Mode de frottement Mode de phase Mode magnétique Mode électrostatique	Mode de contact Mode de tapement [Facultatif] Mode de frottement Mode de phase Mode magnétique Mode électrostatique	Mode de contact Mode de tapement [Facultatif] Mode de frottement Mode de phase Mode magnétique Mode électrostatique	Mode de contact Mode de tapement [Facultatif] Mode de frottement Mode de phase Mode magnétique Mode électrostatique
  Courbe actuelle de spectre	Courbe de RMS-Z [Facultatif] F-Z Force Curve	Courbe de RMS-Z F-Z Force Curve	Courbe de RMS-Z F-Z Force Curve	Courbe de RMS-Z F-Z Force Curve
  Chaîne DE X/Y de balayage	20×20um	20×20um	50×50um	50×50um
  Résolution DE X/Y de balayage	0.2nm	0.2nm	0.2nm	0.2nm
  Chaîne de balayage de Z	2.5um	2.5um	5um	5um
  Résolution de balayage de Y	0.05nm	0.05nm	0.05nm	0.05nm
  Vitesse de balayage	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz	0.6Hz~30Hz
  Angle de balayage	0~360°	0~360°	0~360°	0~360°
  Dimension de l'échantillon	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm	Φ≤90mm H≤20mm
  Déplacement DE X/Y d'étape	15×15mm	15×15mm	25×25um	25×25um
  Conception amortissante	Suspension de ressort	Suspension de ressort Métal protégeant la boîte	Suspension de ressort Métal protégeant la boîte	-
  Syestem optique	objectif 4x Résolution 2.5um	objectif 4x Résolution 2.5um	objectif 10x Résolution 1um	Oculaire 10x Plan LWD APO 5x10x20x50x d'infini 5.0M Digital Camera 10" moniteur d'affichage cristaux liquides, avec la mesure Illumination de LED Kohler Focalisation brute et fine coaxiale
  Sortie	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0	USB2.0/3.0
  Logiciel	Victoire XP/7/8/10	Victoire XP/7/8/10	Victoire XP/7/8/10	Victoire XP/7/8/10

• Microscope	Microscope optique	Microscope électronique	Microscope de balayage de sonde
  Max Resolution (um)	0,18	0,00011	0,00008
  Remarque	1500x immersion dans l'huile	Atomes de carbone de diamant de représentation	Atomes de carbone graphitiques d'ordre élevé de représentation

• Interaction de Sonde-échantillon	Signal de mesure	L'information
  Force	Force électrostatique	Forme
  Courant de tunnel	Actuel	Forme, conductivité
  Force magnétique	Phase	Structure magnétique
  Force électrostatique	Phase	distribution de charge

• 	Résolution	Condition de travail	Temperation fonctionnant	Damge prélever	Profondeur d'inspection
  SPM	Atom Level 0.1nm	Normal, liquide, vide	Pièce ou bas Temperation	Aucun	1~2 Atom Level
  TEM	Point 0.3~0.5nm Trellis 0.1~0.2nm	Vide poussé	Pièce Temperation	Petit	Habituellement <100nm>
  SEM	6-10nm	Vide poussé	Pièce Temperation	Petit	10mm @10x 1um @10000x
  FIM	Atom Level 0.1nm	Vide poussé superbe	30~80K	Damge	Atom Thickness

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