Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Scanner électronique à émission de champ Schottky

Numéro de modèle:A63. Je vous en prie.7040
Lieu d'origine:Chine
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Capacité à fournir:mois de 5000 PCs
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Adresse: Plaza de F-1501 Wanda, route de no. 18 Shijingshan, Pékin 100043, Chine
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Détails du produit
SpécificationA63.7140A63.7160
Paramètres clésRésolution0,9 nm 30 kV (SE)
1,4 nm 15 kV (SE)
0,9 nm 30 kV (SE)
1,2 nm 15 kV (SE)
1,5 nm 1 kV (mode SE, BD))
Tension d'accélération0,02 kV30 kV0,02 kV30 kV
Grossissement12000000x12000000x
Canon électronsCanon émission de champ thermique SchottkyCanon émission de champ thermique Schottky
Courant de sonde1pA~40nA1pA~40nA
Champ de vision6 mm6 mm
Temps de séjour20ns20ns
Déviation du faisceau--Système de déviation double faisceau :
Système de déviation de faisceau hybride électromagnétique et statique
ObjectifSystème double objectif :
Objectif magnétique et objectif électrostatique, échantillon magnétique adaptable
Système double objectif :
Objectif magnétique et objectif électrostatique, échantillon magnétique adaptable
Ouverture du canon(10μm, 30μm, 70μm, 100μm, 150μm, 220μm)*2 ensembles (1 pour la sauvegarde), déplacement motorisé(10μm, 30μm, 70μm, 100μm, 150μm, 220μm)*2 ensembles (1 pour la sauvegarde), déplacement motorisé
ChambreTaille de la chambreLargeur 370 mm, hauteur 330 mm, profondeur 344 mmLargeur 370 mm, hauteur 330 mm, profondeur 344 mm
Port d'extension10 ports10 ports
Système de vide2 pompes ions
1 Pompe Moléculaire Turbo
1 Pompe mécanique sans huile
2 pompes ions
1 Pompe Moléculaire Turbo
1 Pompe mécanique sans huile
Aspiration du pistolet : 2x10-7Pa
Vide de la chambre : 6x10-4Pa
Aspiration du pistolet : 2x10-7Pa
Vide de la chambre : 6x10-4Pa
ScènePlatine automatique 5 axes, X : 130 mm, Y : 130 mm, Z : 60 mm, R : 360 °, T : -10 °70°, charge maximale >500gPlatine automatique 5 axes, X : 130 mm, Y : 130 mm, Z : 60 mm, R : 360 °, T : -10 °70°, charge maximale >500g
CaméraCCD de navigation optique couleur
CCD IR haute définition
CCD de navigation optique couleur
CCD IR haute définition
Détecteurs et extensionsStandardDétecteur SEDétecteur SE
Détecteur Inlens SE
PC et logicielsOrdinateurPoste de travail, mémoire 16 Go, disque dur 512 Go, écran 24", système Win10Poste de travail, mémoire 16 Go, disque dur 512 Go, écran 24", système Win10
ContrôlePanneau de contrôle et joystickPanneau de contrôle et joystick
LogicielMise au point automatique, stigmatisation automatique, contraste de luminosité automatique, format d'image TIFF, JPG, PNG, BMP, résolution de sortie d'image max. 16k*16kMise au point automatique, stigmatisation automatique, contraste de luminosité automatique, format d'image TIFF, JPG, PNG, BMP, résolution de sortie d'image max. 16k*16k
Accessoires optionnelsA50.7101ESBESB
A50.7102-InLens BSE
A50.7103Spectroscopie dispersive en énergie (EDS/EDX)Spectroscopie dispersive en énergie (EDS/EDX)
A50.7104Diagramme de diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD)Diagramme de diffraction des électrons rétrodiffusés (EBSD)
A50.7105EDS+EBSDEDS+EBSD
A50.7106Transmission électronique par balayage (STEM)Transmission électronique par balayage (STEM)
A50.7107Courant induit par faisceau d'électrons (EBIC)Courant induit par faisceau d'électrons (EBIC)
A50.7108Cathodoluminescence (CL)Cathodoluminescence (CL)
A50.7109PlasmaPlasma
A50.7110Sas air, entrepôt d'échange d'échantillonsSas air, entrepôt d'échange d'échantillons
A50.7111Obturateur de faisceauObturateur de faisceau
A50.7120Logiciel de couture de grandes imagesLogiciel de couture de grandes images
A50.7121Logiciel d'analyse de particulesLogiciel d'analyse de particules
A50.7112Support de transfert sous videSupport de transfert sous vide
A50.7113Système corrélatif Raman-SEMSystème corrélatif Raman-SEM
A50.7115UPSUPS
A50.7114-Colonne de filtration d'énergie encastrée ExB

Forte compatibilité, grande adaptabilité

Peut être installé sur différents terminaux, tels que des ordinateurs, des téléphones portables et des tablettes, pour contrôler le microscope électronique ; Ce système d'exploitation de microscope électronique SEM-OS est compatible avec les SEM de divers fabricants et est compatible avec plusieurs modèles, élargissant ainsi l'écosystème SEM


Logiciel et informatique intégrés, simples et efficaces

Interface utilisateur unifiée, pas besoin de s'adapter plusieurs reprises différents terminaux ; Équipé d'algorithmes d'IA pour collecter des informations et présenter des effets de sortie en temps réel avec une qualité d'image plus claire et des détails plus importants ; Le SEM piloté par le noyau accélère le contrôle du matériel

① Barre de menu, ② Zone d'opération rapide, ③ Barre de données, ④ Zone de surveillance, ⑤ Zone de navigation, ⑥ Zone complète, ⑦ Zone d'opération, ⑧ Zone d'état

Le microscope électronique balayage de la série A63.7140/A63.7160 est équipé de tiges de transfert sous vide IGS, de spectromètres d'énergie EDS, de spectroscopie Raman et d'autres accessoires, offrant une solution complète pour la recherche sur les batteries au lithium, de la préparation des échantillons, l'observation de la morphologie, l'analyse de la composition et l'analyse structurelle.

Étape 1:La tige de transfert est chargée sur la boîte gants pour terminer le transfert de l'échantillon de la boîte gants vers le compartiment de la tige de transfert.


Étape 2:Le processus de transfert d’échantillon implique le transfert de la pression positive l’intérieur de la chambre de la tige pendant le processus de transfert.


Étape 3:La tige de transfert est chargée sur le microscope électronique pour transférer l'échantillon de la chambre de la tige de transfert la chambre principale du microscope électronique.


Étape 4:Prise de vue d'échantillons et post-traitement des données, développement personnalisé selon les besoins des utilisateurs.


Spectromètre SEM+ EDS + Tige de transfert sous vide + Spectroscopie Raman + Logiciel d'analyse


Analyse structurelle | Analyse des mécanismes | Table de déplacement de haute précision

▪ Compensez l'analyse de la structure moléculaire que la technologie EDS ne peut pas réaliser et appréhendez de manière exhaustive la composition de l'échantillon

▪ Réalisez une commutation rapide entre l'axe optique Raman et l'axe optique du faisceau d'électrons, une analyse multidimensionnelle des caractéristiques de l'échantillon et un suivi en temps réel. L'évolution structurelle des matériaux au cours des processus de charge et de décharge, et l'étude approfondie de leurs mécanismes d'assistance

▪ Table de déplacement en céramique piézoélectrique haute précision grande course et haute vitesse, permettant une acquisition de données intégrée la même position, répondant l'analyse de stabilité de la surface Raman confocale long terme

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Opto Edu A63.7140A63.7160 2000000x Scanner électronique à émission de champ Schottky

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