Mémoire instantanée Chip Intelligent Test Equipment

Number modèle:HD-N8-NAND
Point d'origine:La Chine
Quantité d'ordre minimum:1set
Conditions de paiement:L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union, MoneyGram
Capacité d'approvisionnement:150 ensembles/mois
Délai de livraison:8 jours après ordre
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Fournisseur Vérifié
Dongguan Guangdong China
Adresse: Pièce 105, bâtiment F4, secteur F, ville de Tianan Digital, secteur de Nancheng, ville de Dongguan, province du Guangdong, Chine
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Mémoire instantanée Chip Intelligent Test System

 

Description de produit :

  1. Le système de test intelligent YC-N8-NAND est un système de test complet de mémoire instantanée qui peut être adapté aux besoins du client pour examiner jusqu' 8 particules instantanées en parallèle.
  2. Il soutient un large éventail de cartes-test et de paramètres adaptés aux besoins du client d'essai. Il fournit un écoulement de base d'essai d'un-clic, un essai expérimental fortement flexible, et l'écoulement avancé d'essai, et peut il fournit l'écoulement de base d'essai d'un-clic, l'essai expérimental fortement flexible et l'écoulement avancé d'essai, qui peuvent réaliser de divers essais fonctionnels tels que la prévision de la vie demeurante, le vrai essai, conservation de données et lire la perturbation des particules de mémoire instantanée. Le rapport des essais peut être exporté rapidement et facilement après l'achèvement de l'essai. Il fournit les essais graphiques les plus intuitifs pour fournir la référence la plus précise pour la classification et l'application instantanées de particules. Il également fournit la référence la plus précise pour la classification et l'application instantanées de particules et permet l'évaluation intelligente basée sur des résultats d'essai instantanés de qualité de particules.


Spécifications produit :

  1. Examiné par JEDEC tenez no. 218 : Conditions d'entraînement de l'association B-2016 de technologie (disque transistorisé) et essai de résistance semi-conducteur semi-conducteur Motho ;
  2. Base d'essai suivant no. standard 47 NVCE de JEDEC : Qualification semi-conducteur d'effort-TestDriven d'association de technologie des circuits intégrés ;
  3. Caractéristiques de conception de panneau d'essai pour répondre des exigences d'environnement de la température d'essai d'industriel-catégorie ;


Spécifications techniques :

Propriétés physiques
Taille d'équipementW400×H510×D520mm
Méthode d'alimentation d'énergieC.A.
Gamme de tension d'opérationLa terre 2 fils V C.A. (220±10%) + protectrice monophasée
Puissance fonctionnante normale2KW
Gamme de température de fonctionnement-30ºC~150ºC
Température ambiante de température de stockage-20ºC~60ºC
Humidité relative fonctionnante45%~75%
Performances système
Nombre de particules qui peuvent être examinées en parallèle1~8 PCs
Marques instantanées soutenues pour l'essaiSLC, MLC, chromatographie sur couche mince, SanDisk, etc. de micron, Intel, YMTC, Hynix, Toshiba, SanDisk, etc., type particules de QLC de puce de NAND Flash (la gamme est développée)
Les tailles de paquet ont soutenuBGA152, BGA132 (prolongements faits sur commande disponibles)
Types de protocole instantanés soutenusParticules d'interface d'ONFI/toggle
Tension soutenueAppui V1.2, V1.8 de matériel facultatif
Chaîne soutenue de traction- de tensionLe software support peut être vcc2.3~3.6 réglé avec précision
vccq1.2 1.15~1.25
vccq1.8 1.70~1.95
Soutient les gammes d'essai facultativesDifférents arrangements pour le nombre de blocs commençants, d'intervalle entre blocs, de nombre de cycles, de temps d'essai, etc.
Modèle de soutienChacun des 0, chacun des 1, chacun des 5, grille pseudo-aléatoire, de damier, ligne de mot aléatoire, etc.
Soutien des types de commande d'essaiInspection de l'information de mémoire instantanée
Essais de performances de mémoire instantanée
Essai et prévision de la vie
Classification de classe de qualité
Essai d'interférence de données
Essai de conservation de données
Fonctionnalité de Lecture-nouvelle tentative
Essai et prévision de vie
Personnalisation de CCE
Vitesse d'essai parallèleComme un exemple d'un essai longévital de base de granule de Wellington :
Mode équilibré : 128GB *8 granule approximativement 1 heure
Plein mode : 128GB*8 granule approximativement 2 heures
Mode ultra-rapide : 128GB*8 granule approximativement 20 minutes
Module intelligent d'essaiEssais de base
Essais expérimentaux
Essais avancés


Notre introduction de société :
Le HAIDA INTERNATIONAL est un fabricant professionnel de divers genres d'équipements d'essai sur 24 ans. Les produits de HAIDA sont très utilisés dans les produits de papier, l'emballage, l'impression l'encre, les rubans adhésifs, les sacs, les chaussures, les produits en cuir, l'environnement, les jouets, les produits de bébé, le matériel, les produits électroniques, les produits en plastique, les produits et d'autres industries, et applicable en caoutchouc tous les unités de recherches scientifiques, établissements d'inspection de qualité et champs scolaires.

 

 

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