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IEC60335-1 le générateur d'impulsion haute tension de la clause 14 avec la vague forment 1,2/50 de µs
IEC60335-1 surtensions passagères de la clause 14
Les appareils résisteront aux surtensions passagères auxquelles ils
peuvent être soumis.
La conformité est vérifiée en soumettant chaque dégagement ayant
une valeur moins que ceux spécifique dans le tableau 16 un essai de
tension d'impulsion.
La tension d'essai de tenue aux ondes de choc a une forme de vague
vide correspondant aux µs de 1,2/50 l'impulsion que standard a
spécifiés dans le CEI 61180. La tension d'essai de tenue aux ondes
de choc est appliquée trois fois pour chaque polarité avec des
intervalles au moins de 1 S.
Équipement de test du CEI
Norme : Se conforme IEC60335-2-6 la clause 14, le clasue 16, IEC60335-2-9 la clause 14, IEC60335-1 la clause 14, clause 2.10.3.9, la référence 2 de 60950-1:2013 du CEI de la table N.1 et etc., la clause 9,7 du CEI 60898-1.
Caractéristique :
interface d'affichage cristaux liquides du contact 7-inch, riches dans les fonctions, faciles utiliser, faciles d'améliorer le logiciel Équipement de test du CEI
Bloc THT programmable intelligent, haute tension intégrée au-dessus de tension, au-dessus de la protection de courant et de court-circuit
Détection intelligente de sortie, erreur de tension, aucun avertissement de sortie
Paramètres :
Tension de sortie | 12kV ±5% (maximum) | |
Temps de front des ondes d'impulsion :
| 1.2μs ±30% Équipement de test du CEI | |
De demi-valeur de après le temps de vague | 50μs ±20% | |
Capacité | 0.8U | |
Polarité de sortie | Cycle positif, négatif, positif et négatif | |
Résistance de sortie (facultative) | 2Ω, 500Ω±10% | 12Ω, 500Ω±10% |
Mode d'impact | Automatique ou manuel | |
Cycles d'impact | 1-9999 | |
Temps d'intervalle d'impact | 3-999s (3s dont est la période le remplissage inhérente du dispositif) | |
Source d'énergie | AC220±10%, 50/60Hz | |
Dimension | 470mm×260mm×500mm | |
Poids | 30kg Équipement de test du CEI |
Impulsion produisant du circuit équivalent d'unité :
Vague de tension de définition de forme d'onde de sortie
Temps de bord d'attaque : T1=1.67T=1.2μs±30%
Temps de mi-crête : T2=50μs±20% Équipement de test du CEI