Testeur d'épaisseur de revêtement XRF HXRF-450S avec détecteur SDD
Numéro de modèle:Pour les appareils à commande numérique
Lieu d'origine:Chine
Quantité minimum de commande:1 PC
Conditions de paiement:T / t, paypal
Supply Ability:5sets/month
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Fournisseur Vérifié
Beijing Beijing China
Adresse:
7e étage, Bâtiment B Chengyuan, le Mid. Route de Jiancaicheng Dist.BeiJing Haidian, 100096 CHINE
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Détails du produit
Profil de la société
Détails du produit
HXRF-450S XRF Testeur d'épaisseur de peinture de revêtement par
fluorescence rayons X
Spécifications du produit
| Attribut | Valeur |
|---|---|
| Plage des éléments de mesure | L'aluminium (Al) - l'uranium (U) |
| Détecteur | Le SDD |
| Temps d'essai | 10 40 ans |
| Courant du tube | 0-1mA (régulé par programme) |
| Pression élevée | 0 50 kV (régulé par programme) |
| Magnification | Optique: 40 60 × |
| Voltage d'entrée | AC220V ± 10% 50/60 Hz |
Vue d'ensemble du produit
The HXRF-450S XRF X-ray Fluorescence Coating Painting Thickness Tester is a high-performance instrument designed for precise coating thickness measurement and material analysis across various industries.
Conditions de travail
- Température de fonctionnement: 15 30°C
- Humidité relative: 40% 50%
- Énergie électrique: CA: 220V ± 5V
Performance technique
- Excellente stabilité long terme avec des exigences minimales d'étalonnage
- Aucune préparation de l'échantillon n'est nécessaire pour les systèmes de revêtement, les échantillons solides ou liquides
- Performance complète comprenant l'analyse du revêtement, l'analyse qualitative/quantitative, l'analyse du bain et les fonctions statistiques
Applications
Idéal pour les composants électroniques, les semi-conducteurs, les PCB, les FPC, les supports LED, les pièces automobiles, les revêtements fonctionnels, les pièces décoratives, les connecteurs, les terminaux, les articles sanitaires,bijoux et autres industries pour la mesure de l'épaisseur du revêtement de surface et l'analyse des matériaux.
Caractéristiques de sécurité
- Interface utilisateur simple avec autorisation limitée de l'opérateur
- Capacités de maintenance du superviseur
- Enregistrements d'utilisation automatiques de l'opérateur
- Blocage automatique pour empêcher une utilisation non autorisée
- Capteur de porte de la chambre d'échantillonnage
- Feu d'avertissement rayons X
- Buttons de sécurité du panneau avant
Principales caractéristiques
- Mesures jusqu' 5 couches (4 couches + substrat) simultanément
- Analyse 15 éléments avec correction automatique des lignes spectrales
- Haute précision de mesure (jusqu' μin) avec une excellente stabilité
- Mesure rapide et non destructive (jusqu' 10 s)
- Analyse des solides et des solutions avec des capacités qualitatives, semi-quantitatives et quantitatives
- Identification et détection de la classification des matières
- Statistiques détaillées des données (moyenne, écart type, etc.)
- Options de sortie multiples (impression, PDF, Excel) avec des rapports complets
- Vue d'avance de la position de mesure avec grossissement optique 30x
- Service mondial et soutien technique
Paramètres techniques
| Paramètre | Spécification |
|---|---|
| Plage des éléments de mesure | L'aluminium (Al) - l'uranium (U) |
| Détecteur | Le SDD |
| Types de collimateurs | Un trou unique fixe (0,15 mm, 0,2 mm, 0,5 mm) |
| Système de trajectoire optique | Irradiation verticale |
| Magnification | Optique: 40 60 × |
| Les modes d'affichage | Spéctrum élémentaire, modèle d'étiquette, éléments et valeurs de mesure |
| La caméra | Caméra industrielle haute définition avec grossissement local |
| Applications | Couche simple/double, couche d'alliage, solution de galvanoplastie |
| Voltage d'entrée | AC220V ± 10% 50/60 Hz |
| La communication | Transmission USB haut débit |
| Les dimensions | 555*573*573 mm (410*478*245 mm de cavité) |
| Source de rayons X | Tubes lumineuses microfocus de haute précision (W Target) |
| Caractéristiques du logiciel | Algoritme FP, diagnostic/correction automatique des défauts, compensation automatique |
Configuration standard
Détecteur de semi-conducteurs SDD
- Détecteur de semi-conducteurs SDD refroidi électriquement
- Résolution: 129 ± 5 EV
- Module de circuit d'amplification pour la détection par rayons X des caractéristiques de l'échantillon
Dispositif d'excitation aux rayons X
- Le courant de sortie maximal du filament: 1mA
- Composant demi-perte, 50 W, refroidissement air
Émetteur haute pression
- Voltage de sortie maximal: 50 kV
- Réglage contrôlable minimum de 5 kV
- Protection contre les surcharges de tension autonome
Testeur d'épaisseur de revêtement XRF HXRF-450S avec détecteur SDD
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