Le simulacre de substrat de nitrure de silicium de 4 pouces 4H-N sic évaluent sic le substrat pour des dispositifs de puissance élevée - galliumnitridewafer

Le simulacre de substrat de nitrure de silicium de 4 pouces 4H-N sic évaluent sic le substrat pour des dispositifs de puissance élevée

Number modèle:4H
Point d'origine:La Chine
Quantité d'ordre minimum:3pcs
Conditions de paiement:T/T, Western Union
Capacité d'approvisionnement:1000pcs/months
Délai de livraison:10-30days
Contacter

Add to Cart

Fournisseur Vérifié
Shanghai Shanghai China
Adresse: Chambre 1-1805, no.1079 rue Dianshanhu, région de Qingpu, ville de Shanghai, Chine /201799
dernière connexion fois fournisseur: dans 13 heures
Détails du produit Profil de la société
Détails du produit

4H-N 4H-SEMI 2 pouces 3 pouces 4 pouces 6 pouces SiC Substrate de qualité de production de qualité factice pour les appareils haute puissance


H Substrats de carbure de silicium de haute pureté, substrats de SiC de haute pureté de 4 pouces, substrats de carbure de silicium de 4 pouces pour semi-conducteurs, substrats de carbure de silicium pour semi-conducteurs, plaquettes monocristallines,Pour les lingots de pierre précieuse.


Domaines d'application


1 appareils électroniques haute fréquence et haute puissance diodes Schottky, JFET, BJT, PiN, diodes, IGBT, MOSFET

2 appareils optoélectroniques: principalement utilisés dans les LED matériau de substrat bleu GaN/SiC (GaN/SiC)


avantage

• Faible déséquilibre des treillis
• Haute conductivité thermique
• Faible consommation électrique
• Excellentes caractéristiques transitoires
• Large écart de bande


Carborundum de wafer en substrat cristallin de carbure de silicium SiC


des substrats 4H-N et 4H-SEMI SiC (carbure de silicium), disponibles dans une gamme de diamètres tels que 2 pouces, 3 pouces, 4 pouces et 6 pouces,sont largement utilisés pour la fabrication de dispositifs de haute puissance en raison de leurs propriétés de matériaux supérieuresVoici les principales propriétés de ces substrats SiC, qui les rendent idéaux pour des applications de haute puissance:

  1. Large bande passante: Le 4H-SiC a une large bande passante d'environ 3,26 eV, ce qui lui permet de fonctionner efficacement des températures, des tensions et des fréquences plus élevées que les matériaux semi-conducteurs traditionnels comme le silicium.

  2. Champ électrique haute décomposition: Le champ électrique décomposition élevée du SiC (jusqu' 2,8 MV / cm) permet aux appareils de gérer des tensions plus élevées sans panne, ce qui le rend essentiel pour l'électronique de puissance telle que les MOSFET et les IGBT.

  3. Excellente conductivité thermique: Le SiC a une conductivité thermique d'environ 3,7 W/cm·K, nettement supérieure celle du silicium, ce qui lui permet de dissiper la chaleur plus efficacement.

  4. Vitesse d'électron de saturation élevée: Le SiC offre une vitesse de saturation électronique élevée, améliorant les performances des appareils haute fréquence, utilisés dans des applications telles que les systèmes radar et la communication 5G.

  5. Résistance mécanique et dureté: La dureté et la robustesse des substrats SiC assurent une durabilité long terme, même dans des conditions de fonctionnement extrêmes, ce qui les rend très adaptés aux appareils de qualité industrielle.

  6. Faible densité de défauts: les substrats SiC de qualité de production sont caractérisés par une faible densité de défauts, ce qui garantit une performance optimale de l'appareil, alors que les substrats de qualité fictive peuvent avoir une densité de défaut plus élevée,d'une épaisseur n'excédant pas 10 mm.

Ces propriétés rendent les substrats SiC 4H-N et 4H-SEMI indispensables dans le développement de dispositifs de puissance hautes performances utilisés dans les véhicules électriques, les systèmes d'énergie renouvelable,et applications aérospatiales.


Propriétés du carbure de silicium


Les biens immobiliers4H-SiC, cristal unique6H-SiC, cristal unique
Paramètres de la grillea=3,076 Å c=10,053 Åa=3,073 Å c=15,117 Å
Séquence d'empilementLe code ABCABCACB
Dureté de Mohs≈9.2≈9.2
Densité3.21 g/cm33.21 g/cm3
Coefficient de dilatation thermique4 5 × 10 6/K4 5 × 10 6/K
Indice de réfraction @750 nm

n = 2.61

ne = 2.66

n = 2.60

ne = 2.65

Constante diélectriquec~9.66c~9.66
Conductivité thermique (type N, 0,02 ohm.cm)

a~4,2 W/cm·K@298K

C ~ 3,7 W/cm·K@298K

Conductivité thermique (semi-isolant)

a~4,9 W/cm·K@298K

C ~ 3,9 W/cm·K@298K

a~4,6 W/cm·K@298K

C ~ 3,2 W/cm·K@298K

- Une bande.3.23 eV30,02 eV
Champ électrique de rupture3 5 × 106 V/cm3 5 × 106 V/cm
Vitesse de dérive de saturation2.0 × 105 m/s2.0 × 105 m/s

2. taille de substrat standard pour 6 pouces

6 pouces de diamètre 4H-N & Semi-carbure de silicium Spécifications du substrat
Propriété du substratGrade zéroGrade de productionGrade de rechercheGrade de factice
Diamètre150 mm 0,05 mm
Orientation de la surfaceen dehors de l'axe: 4° vers le bas <11-20> ± 0,5° pour 4H-N

Sur l'axe: <0001> ± 0,5° pour le 4H-SI

L'orientation principale est plate

{10-10} ±5,0° pour le 4H-N/Encoche pour le 4H-Semi

Longueur plate primaire47.5 mm ± 2,5 mm
Épaisseur 4H-NSTD 350 ± 25 mm ou sur mesure 500 ± 25 mm
Épaisseur 4H-SEMIDST de 500 ± 25 mm
Border de la gaufreChambre de nuit
Densité des micropipes pour le 4H-N< 0,5 micropipes/ cm2≤ 2 micropipes/ cm2≤ 10 micropipes/cm2

≤ 15 micropipes/cm2


Densité des micropipes pour 4H-SEMI< 1 micropipes/ cm2≤ 5 micropipes/ cm2≤ 10 micropipes/cm2≤ 20 micropipes/cm2
Zones de polytypes par lumière de haute intensitéAucun n'est autorisé≤ 10% de surface
Résistance au 4H-N0.015 Ω·cm~0.028 Ω·cm(surface 75%) 0,015 Ω·cm~0,028 Ω·cm
Résistance 4H-SEMI

≥1E9 Ω·cm

LTV/TTV/BOW/WARP

3Pour les produits base d'alcool:6Pour les produits base d'alcool:30Pour le calcul de l'efficacité de l'eau0μm

5Pour le calcul de l'efficacité de l'aérosol60μm

Plaques hexagonales par haute intensité lumineuse

Surface cumulée ≤ 0,05%

Surface cumulée ≤ 0,1%

SSurface de l'iliconContamination par la lumière haute intensité

Aucune


Inclusions de carbone visuel


Surface cumulée ≤ 0,05%

Surface cumulée ≤3%

Zones de polytypes par haute intensité lumineuse


Aucune

Surface cumulée ≤ 3%

Échantillon de livraison


Les autres services que nous pouvons fournir

1- épaisseur personnalisée fil-coupé 2. taille personnalisée tranche de puce 3. forme cuotomized lentille



Les autres produits similaires que nous pouvons fournir


FAQ:

Quelle est la façonde l' expédition et du coût et de la rémunération?

A: ((1) Nous acceptons 50% T/T l'avance et 50% avant la livraison par DHL, Fedex, EMS, etc.

(2) Si vous avez votre propre compte express, c'est génial. Sinon, nous pourrions vous aider les expédier.

Le fret est in conformément au règlement effectif.


Q: Quel est votre MOQ?

R: (1) Pour l'inventaire, le MOQ est de 3 pièces.

(2) Pour les produits personnalisés, le MOQ est de 10 pièces.


Q: Puis-je personnaliser les produits en fonction de mes besoins?

R: Oui, nous pouvons personnaliser le matériau, les spécifications et la forme, la taille selon vos besoins.


Q: Quel est le délai de livraison?

A: (1) Pour les produits standard

Pour l'inventaire: la livraison est de 5 jours ouvrables après la commande.

Pour les produits sur mesure: la livraison est de 2 ou 3 semaines après la commande.

(2) Pour les produits de forme spéciale, la livraison est de 4 semaines ouvrables après la commande.


China Le simulacre de substrat de nitrure de silicium de 4 pouces 4H-N sic évaluent sic le substrat pour des dispositifs de puissance élevée supplier

Le simulacre de substrat de nitrure de silicium de 4 pouces 4H-N sic évaluent sic le substrat pour des dispositifs de puissance élevée

Inquiry Cart 0