La chambre de test cyclique de puissance de PCT A MORDU balayage d'entraînement de FDS de lecteur multi de la brûlure MDT le plein pour le modèle de disque transistorisé

Le test cyclique de puissance de PCT A MORDU balayage d'entraînement de FDS d'essai multi d'entraînement de l'essai MDT de brûlure le plein pour le modèle de disque transistorisé

Comme essai de nom, la chambre de disque transistorisé est particulièrement conçue pour le semi-conducteur examinant comme le modèle de disque transistorisé, l'éclair, la puce, et la carte de mémoire examinant dedans

Puissance faisant un cycle Tes, essai de brûlure, essai multi d'entraînement et plein essai de balayage d'entraînement pour le modèle de disque transistorisé. Notre technoloy avancé dans la chambre de disque transistorisé est en second lieu personne en Chine.

Applications

Essai anormal de panne de courant pour le modèle de disque transistorisé

| lisez et écrivez l'essai pour le modèle de disque transistorisé

| Essai d'instruction du disque transistorisé ATA1-8

| Essai anormal de panne de courant de disque transistorisé

| Plein disque de disque transistorisé lire et écrire l'essai

| Algorithme de disque transistorisé traçant la vérification de table

| UFS, PCIE, système de test d'EMMC

| Test instantané vieillissant et de dépistage

| Disque transistorisé de PCI-E, disque transistorisé de m2, essai de disque transistorisé de SATA

I. Features

l essai SATAI/II/III de soutien ;

l personnalisation de nombre d'essai de SATA de soutien, telle que 100, 150, 200, 400, etc. ;

l micro-personnalisation de R&D de soutien, telle que 2 ou 6 etc. ;

l essai de soutien (- 70 degrés +180 degrés) ;

l essai anormal de puissance- de soutien et essai de vieillissement ;

l essai de contrôle de température automatisé par appui ;

l soutiennent l'utilisation du logiciel pour les essais de contrôle intelligents ;

l personnalisation d'essai de soutien et de logiciel d'essai ;

l soutient l'équilibre de vitesse du vent et de température dans la boîte ;

l soutient la hausse de la température et le contrôle rapides de chute ;

l soutient la R&D adaptée aux besoins du client de PCIE/d'EMMC/d'UFS/de DRACHME/de vieillissant instantané ;

l soutient le contrôle relié au réseau, vous pouvez commander l'essai distance et voir les résultats d'essai ;

l essai télécommande d'APPLI de soutien ;
 

1,2 construction

Le système de test complet de machine inclut principalement la chambre de la température de ciel et terre, les cartes mère de PC, les conseils de P.M. et le logiciel d'essai, etc.

1,3 matériel

La pièce de matériel se compose principalement de pièces suivantes :

| Coquille de boîte de la température de ciel et terre ; | Compresseur ; | Carte mère de PC ; | Conseil de P.M. ; | Boîtier de commande de puissance ;

1,4 logiciel

La pièce de logiciel se compose principalement de pièces suivantes :

| PC d'essai : Il est principalement divisé en type suivant PCT, MORDU, MDT et FDS ;

|Console : Elle peut commander l'opération entière de PC d'essai. C'est une interface de contrôle pour l'essai. Il est employé pour envoyer des instructions d'essai et des manuscrits de configuration. C'est le centre de commande pour l'essai.

|DMS : utilisé pour sauver tous les résultats d'essai ;

| QMS : utilisé pour la gestion du réseau et les opérations de contrôle ;

| Système d'exploitation de Linux ;

Système de contrôle

Aperçu de système de test intelligent de disque transistorisé

Le système de test intelligent du disque transistorisé adopte la plate-forme Win7 du système d'exploitation. Par le mode ouvert de manuscrit, la température de la chambre de la température de ciel et terre et les articles d'essai des produits de SATA peuvent être modifiés arbitrairement. La transmission de données est exécutée par le système de LUNIX et la pompe huile pour réaliser l'opération d'un-clic. , Contrôle relié au réseau, travail économisant, réalisant la gestion des données intelligente, et de manière permanente maintenant des résultats d'essai.

L'équipement de test de disque transistorisé soutient principalement la fonction de produit de disque transistorisé et l'essai de protocole.

La structure de principe d'une boîte simple de la température de ciel et terre pour des essais de produits de disque transistorisé est montrée ci-dessous :

Les caractéristiques principales de sa structure de principe sont comme suit :

1, chambre peut être adapté aux besoins du client selon l'utilisation de la taille ;

2. Panneau de circuit de commande : 1 PC (6/22) est utilisé sur chaque carte mère de PC, et le programme d'essai est indépendamment développé et maintenu par la société ;

3. Articles d'essai : Les articles d'essai incluent principalement les essais multiples de puissance-vers le bas, un grand nombre d'essais de comparaison lecture/écriture, essais de protocole, et ainsi de suite ;

4. Plate-forme de contrôle : Commandez l'essai entier sous une forme de manuscrit par la console ;

5. Serveur de QMS : Tous les résultats d'essai sont transmis de nouveau QMS en temps réel et de manière permanente stockés ;

6. Interface réseau : Elle peut être commandée distance par le réseau, et le client peut obtenir le statut d'essai de production du produit acheté en temps réel ;

2,2 recherche et développement indépendante de logiciel et de matériel

Notre société est la première société en Chine se spécialisant dans le développement des systèmes de test de disque transistorisé. La recherche et développement indépendante sont principalement divisées en pièces suivantes :

1. Boîte d'essai de la température de ciel et terre : Habituellement utilisé pour le disque transistorisé de C-temp (- 70 degrés | + 180 degrés). Pendant la production en série, la distribution du taux d'échec de production peut être analysée. Des méthodes d'essai de la température de ciel et terre sont employées, et un essai raisonnable est développé par des rapports d'échantillonnage de QA sont employés pour réaliser des essais de chambre pour confirmer la qualité.

2. Banc d'essai de produit de disque transistorisé : Tout l'ordinateur de commande numérique par ordinateur d'alliage d'aluminium se font siffler le traitement, et la surface est noircie et anodisée.

3. Matériel informatique : La carte mère d'essai est particulièrement conçue avec une zone de stockage arrière, qui contient 36 cartes mère d'ordinateur et 36 alimentations d'énergie et disques durs, 5 graisseurs d'huile de plate-forme, et 5 panneaux isolants sur la carte mère.

4. Pièce de logiciel : Principalement contrôle la plate-forme intelligente d'opération de disque transistorisé, diverses fonctions d'essai de disque transistorisé, 1 affichage arrière d'entrepôt, 1 convertisseur d'affichage.

5. Picowatt et feuille : 36 bordereaux de contrôle de disque transistorisé, feuilles de 36 picowatts, 72 ensembles de silicone scellé.

Troisièmement, chambre adaptée aux besoins du client d'essai de la température de ciel et terre

Le système de contrôle de température d'équilibre emploie le PID pour commander le SSR, de sorte que la quantité de chauffage du système soit égale la perte de chaleur, ainsi elle peut être employée stablement pendant longtemps.

: Indexez et des conditions : se rapporte refroidissement par air au ℃ de la température ambiante 20, vide :

1) Température ambiante : -60 ℃ | + ℃ 180

2) Stabilité de température : ℃ du ± 0,2

3) Moyenne de distribution de la température : ℃ du ± 2 (d'ici 3 minutes après chargement)

4) Limite minimum de la température : -70 ℃

5) Temps de chauffage : 25 ° C, 90° C, (5 ° C/minute)

6) Temps de refroidissement : ° C de 90° C -55, (1 ° C/minute)

7) Points communs de la température d'essai : -45, -40, -5, 0, 25, 70, 75, 85, 90

8) Exactitude de la température : +/- 2,0 degrés, se rapporte généralement la différence entre la température de point central et la température réglée, pour déterminer les résultats mesurés quand la température atteint 30 minutes, ou la valeur moyenne de la température aux points d'échantillonnage multiple et au jugement réglé de différence de la température. Nos juges de société les plus grands.

9) Fluctuation de la température : 0,5 degrés, après que l'équilibre de la température soit atteint, la différence entre la température la plus élevée et la plus basse température au même point de détection sont pris comme point le plus négatif pour le jugement.

10) Uniformité de distribution : 2 degrés, qui se rapporte la différence entre la température la plus élevée et plus basse de tous les points de détection en même temps après que l'équilibre de la température soit atteint, et est déterminés par le résultat de mesure quand l'équilibre de la température est de 30 minutes.

11) Temps d'équilibre : 30 minutes, le temps s'est écoulé de l'affichage jusqu' ce que l'équilibre réel soit atteint.

12) la température utilisée généralement d'essai, dépassez ne devrait pas dépasser 3 degrés (la valeur d'affichage du thermostat ne devrait pas dépasser 2 degrés)

13) La température dépassent : a) le changement d'une température d'essai une température semblable d'essai (par exemple, de 70 75 degrés), dépassent ne dépasse pas 3 degrés ; b) après l'essai hautes températures est stable, la porte est fermé après un peu d'essai d'ouverture (85 degrés), temps 30s d'ouverture de porte), hausse de la température ne dépasse pas 3 degrés.

14) Pendant le processus de chauffage ou de refroidissement, aucun processus évident de plate-forme ne devrait se produire. Par exemple, quand la température s'élève de la température normale 70 degrés, il ne devrait pas ralentir de manière significative avant d'atteindre 70 degrés (environ 68 degrés).

15) Après que le compresseur soit installé pendant longtemps, il ne devrait y avoir aucun vibration excessive et bruit anormal.

16) Les contacteurs C.A., les relais, etc. ne devraient pas avoir le bruit anormal.

17) Quand le chauffage de la basse température, l doit n'être aucune condensation sur le mur de voyant et de boîte niveau visible

Note : Si l'exactitude de la température est haute, une plus grande uniformité de distribution de la température peut être acceptée

Liste de pièces

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