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La jauge de contrainte de semi-conducteur de description est employée pour la fabrication capteur de l'élément élastique utilisé de l'analyse des contraintes de généralement. Coefficient sensible moins d'hystérésis mécanique et d'éventail de la résistance et du bas effet transversal etc. Il peut être employé pour mesurer la distribution et les composants d'effort…
Description
La jauge de contrainte de semi-conducteur est employée pour la
fabrication capteur de l'élément élastique utilisé de l'analyse des
contraintes de généralement. Coefficient sensible moins
d'hystérésis mécanique et d'éventail de la résistance et du bas
effet transversal etc. Il peut être employé pour mesurer la
distribution d'effort et les composants de la force - conversion
électrique.
Pour des passerelles de navires d'aviation de machines machinant
des structures telles que l'analyse des contraintes plus complexe
statique de mesure il peut également être employé pour accomplir la
compensation non linéaire du capteur d'aluminium. La société non
seulement peut diverse jauge de contrainte régulière de produit et
ne te fournira les différentes conditions du produit telles que la
température aucun type basique.
Caractéristiques
compensation non linéaire de capteur d'aluminium
passerelles de navires d'aviation de machines
Capteur micro de pression
Données techniques
Caractéristiques de jauge de contrainte de semi-conducteur
Number modèle | SYP-15 | SYP-30 | SYP-60 | SYP-120 | SYP-350 | SYP-600 | SYP-1000 |
Résistance de mesure () | 15±5% | 30±5% | 60±5% | 120±5% | 350±5% | 600±5% | 1000±5% |
Code | B, C | B, C | B, C | , B, C | B, C | C | C, D |
construction | 0, F2, F-3, F4, F5 | 0, F2, F-3, F4, F5 | 0, F2, F-3, F4, F5 | 0, F2, F-3, F4, F5 | 0, F2, F-3, F4, F5 | 0, F2, F-3, F4, F5 | C : 0, F2, F-3, F4, F5 |
K | 100 | 100 | 120 | : 150 | 150 | 200 | C : 200 |
TCR (%/℃) | 0,10 | 0,10 | 0,15 | 0,13 | 0,30 | 0,45 | C : 0,40 |
TCGF (%/℃) | -0,12 | -0,12 | -0,18 | : - 0,35 | -0,35 | -0,48 | C : - 0,48 |
courant maximum de fonctionnement (mA) | 50 | 50 | 50 | : 20 | 30 | 20 | 20 |
Tendez les limites (m) | 5000 | 5000 | 5000 | 5000 | 5000 | 5000 | 5000 |
Dimension
Jauge de contrainte de semi-conducteur (sans substrat) | |||
Code | configuration
| taille (millimètres) | Résistance de mesure |
| 1.27×0.22× (0.020~0.030) | 15,30,60,120 | |
B
| 3.8×0.22× (0.020~0.030) | 15,30,60,120,350 | |
C
| 4.7×0.22×0.02 | 15,30,60,120,350,600,1000 | |
D
| 6×0.22×0.02 | 1000 | |
①La longueur de cblage cuivre de la jauge de contrainte de
semi-conducteur (sans substrat) est plus courte que 6mm ; | |||
Exemple : F-3 1000 DE SYP C
explicitez : Jauge de contrainte de semi-conducteur de livre par
pouce carré
résistance : 1000 ;
K : 200 ;
Silicium : 4.7×0.22×0.02 ;
Taille de substrat : 7×4
Note : s'il y a d'autres conditions ou la taille du substrat ou de la
bande de silicium doivent être spécifiées dans le contrat
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