Microscopie de la force atomique multi-fonctionnelle AFM Microscope de biologie précise

Numéro de modèle:Atomedge Pro
Lieu d'origine:CHINE
Quantité de commande minimale:1
Conditions de paiement:T / t
nom:Microscopie à force atomique AFM
méthode de balayage:XYZ SCALLATION EXEMPLAGE FULLE AXIS
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Fournisseur Vérifié
Qingdao Shandong China
Adresse: 169, route de Zhuzhou, district de Laoshan, Qingdao, province du Shandong, Chine
dernière connexion fois fournisseur: dans 1 heures
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Détails du produit

Microscope force atomique multifonctionnel

Modèle du produit :

AtomEdge Pro

Description du produit :

Le microscope force atomique multifonctionnel AtomEdge Pro peut effectuer une imagerie par balayage tridimensionnel sur des matériaux, des dispositifs électroniques, des échantillons biologiques, etc. Il propose plusieurs modes de fonctionnement tels que contact, tapotement et sans contact, offrant aux utilisateurs des options d'opération plus flexibles et précises. De plus, il intègre plusieurs modes fonctionnels tels que la microscopie force magnétique, la microscopie force électrostatique, la microscopie de Kelvin balayage et la microscopie force piézoélectrique, offrant une grande stabilité et une bonne évolutivité. De plus, les modules fonctionnels peuvent être personnalisés de manière flexible en fonction des besoins de l'utilisateur, offrant des solutions ciblées pour des domaines de recherche spécifiques et réalisant une plateforme de détection efficace avec de multiples utilisations en une seule machine.

Performance de l'équipement :
Taille de l'échantillon25 mm
Méthode de balayageBalayage complet de l'échantillon sur trois axes XYZ
Plage de balayage100 μm x 100 μm x 10 μm
Vitesse de balayage0,1-30 Hz
Niveau de bruit dans la direction XY0,4 nm
Niveau de bruit dans la direction Z0,04 nm
Non-linéarité0,15 % dans la direction XY et 1 % dans la direction Z
Point d'échantillonnage de l'imageLa résolution maximale de l'image de la sonde de balayage est de 4096x4096
Mode de fonctionnementMode contact, mode tapotement, mode d'imagerie de phase, mode levage, mode de balayage multidirectionnel
Multifonctionnel
Mesure
Microscope force électrostatique (EFM), microscope de Kelvin balayage (KPFM), microscope force piézoélectrique (PFM), microscope force magnétique (MFM), courbe de force
Cas d'application :
  • Étalon d'étalonnage de grille
  • Mode de balayage : Mesure de la topographie
  • Plage de balayage : 25 μm * 25 μm
  • Film de titane - Film de titanate d'aluminium
  • Mode de balayage : Microscopie force piézoélectrique (PFM)
  • Plage de balayage : 10 μm * 10 μm
  • Film mince de sulfure de vanadium
  • Mode de balayage : Microscopie force électrostatique (EFM)
  • Plage de balayage : 5 μm * 5 μm
  • Film mince de sulfure de vanadium
  • Mode de balayage : Microscopie de force de sonde de Kelvin (KPFM)
  • Plage de balayage : 5 μm * 5 μm
  • Film mince Co/Fe/B
  • Mode de balayage : Microscopie force magnétique (MFM)
  • Plage de balayage : 25 μm * 25 μm
  • Film mince Co/Pt
  • Mode de balayage : Microscopie force magnétique (MFM)
  • Plage de balayage : 30 μm * 30 μm
  • Morphologie de la feuille d'électrode striée Au-Ti
  • Mode de balayage : Mode tapotement
  • Plage de balayage : 18 μm * 18 μm
  • Morphologie des trichites Al₂O₃
  • Mode de balayage : Mode tapotement
  • Plage de balayage : 15 μm * 15 μm
  • Morphologie du polymère de résine époxy
  • Mode de balayage : Mode tapotement
  • Plage de balayage : 7 μm * 7 μm
  • Magnétisme du film mince Pt-Co
  • Mode de balayage : MFM (Mode levage)
  • Plage de balayage : 5 μm * 5 μm
  • Film mince de niobate de lithium
  • Mode de balayage : Microscopie force piézoélectrique (PFM)
  • Plage de balayage : 35 μm * 35 μm
  • Bacillus Immobilis
  • Mode de balayage : Mesure de la topographie
  • Plage de balayage : 3 μm * 3 μm
China Microscopie de la force atomique multi-fonctionnelle AFM Microscope de biologie précise supplier

Microscopie de la force atomique multi-fonctionnelle AFM Microscope de biologie précise

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