Douille de test BGA haute performance Solutions de test de circuits intégrés personnalisés
Numéro de modèle:Top
Lieu d'origine:CHINE
Quantité de commande minimale:1
Pas:≥0.3mm
Comptage des broches:2-2000 +
Packages compatibles::BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP
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Fournisseur Vérifié
Shenzhen China
Adresse:
Étage 6, bâtiment 4, 10e parc industriel, GM Tianliao, nouveau quartier de Guangming, Shenzhen, RPC
dernière connexion fois fournisseur:
dans 27 heures
Détails du produit
Profil de la société
Détails du produit
Sockets de test BGA - Solutions personnalisées pour le test de circuits intégrés
- Large plage de pas: 0,3 mm 1,5 mm pour tous les types de boîtiers BGA
- Support haute et basse température: -55°C +140°C (burn-in et validation)
- Conceptions multiples: Open-top, clamshell, ATE, CT ;
- Tous les besoins de test: Burn-in, test fonctionnel, programmation
- Durable: 50 000+ cycles, haute fiabilité
Personnalisation rapide – Dites-nous vos exigences, obtenez un socket de test parfaitement adapté !
Socket de test BGA personnalisé: Spécifications principales
Propriété | Paramètre | Valeur typique |
Mécanique | Cycles d'insertion | ≥30K–50K cycles |
Force de contact | 20–30g/pin | |
Température de fonctionnement | Commercial -40 ~ +125 | |
Tolérance | ±0,01 mm | |
Électrique | Résistance de contact | <50mΩ |
Impédance | 50Ω (±5%) | |
Courant | 1,5A~3A |
Solutions de sockets de test BGA – Tests de précision pour les applications exigeantes
Que vous validiez des prototypes, programmiez des circuits intégrés ou effectuiez des tests de production grand volume, nos sockets de test BGA personnalisés garantissent précision et répétabilité. Conçus pour les environnements difficiles, nos sockets présentent des conceptions mécaniques robustes pour éviter le gauchissement sous contrainte thermique tout en maintenant une résistance de contact stable. Compatibles avec les manipulateurs et testeurs automatisés, ils rationalisent votre processus de validation tout en réduisant les temps d'arrêt.
Douille de test BGA haute performance Solutions de test de circuits intégrés personnalisés
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