Instrument de diffraction de bureau Diffractomètre XRD de paillasse de haute qualité

Puissance de fonctionnement

600W (40kV, 15mA) ou 1600W (40kV, 40mA), stabilité : < 0,005 %

Tube rayons X

Tube rayons X en céramique métallique, cible Cu, puissance 2,4 KW, taille du foyer : 1H)mm10 mm, refroidi par air ou refroidi par eau (débit d'eau supérieur 2,5 L/min)

Goniomètre

La technologie de codage optique au niveau de l'échantillon et les servomoteurs sont adoptés pour entraîner la rotation de θs et θd

Méthode de mesure

Continue, pas pas, Omg

Plage de mesure angulaire

- 3 °- 150 °

Largeur de pas minimale

0,0001 °

Reproduction angulaire

0,0005 °

Vitesse de positionnement angulaire

1500°/min

Détecteur

Comptage numérique du traitement des impulsions ou détecteur réseau semi-conducteur

Débit de comptage

1H)mm107CPS, 9H)mm107CPS

Résolution du spectre énergétique

0,5 %25 % ou 0,5 %1 keV

Ordinateur

Ordinateur portable professionnel

Logiciel de contrôle de l'instrument

Système d'exploitation Windows10, contrôle automatiquement la tension du tube, le courant du tube, l'interrupteur photoélectrique et le vieillissement du tube rayons X du générateur de rayons X. Contrôlez le goniomètre pour balayer en continu ou par étapes, et collectez simultanément les données de diffraction. Traitement conventionnel des données de diffraction : recherche automatique des pics, recherche manuelle des abeilles, intensité d'intégration, hauteur des pics, centre de gravité, soustraction du fond, lissage, grossissement de la forme des pics, comparaison du spectre, etc.

Logiciel de traitement des données

Analyse qualitative de phase, analyse position fixe, Kα1, α2 exfoliation, ajustement du spectre complet, ajustement de la sélection des pics, calcul de la largeur mi-hauteur et de la taille des grains, détermination de la cellule unitaire, calcul des contraintes de classe II, indexation des lignes de diffraction, traçage multiple, traçage 3D, étalonnage des données de diffraction, soustraction du fond, analyse quantitative sans étalonnage, ajustement du spectre complet (WPF), simulation du spectre de diffraction XRD et autres fonctions.

Protection contre les lignes diffusées

Plomb + protection en verre au plomb, la fenêtre de la porte de lumière est connectée au dispositif de protection, et la ligne de diffusion est calculée ne pas dépasser 1μSv/hStabilité globale de l'instrument

≤

0,5 %Données d'adoucissement unique de l'échantillon

Configurez le changeur d'échantillons, avec un maximum de 6 échantillons chargés chaque fois

Dimensions externes de l'instrument

580

×H)mm×H)mm×H)mm×H)mm