Instrument de mesure de la morphologie de surface Nanomètre Micromètre Dispositif de mesure de la topographie
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Instrument de mesure de la morphologie de surface Nanomètre Micromètre Dispositif de mesure de la topographie
Description
L'instrument de mesure de la topographie de surface est un dispositif de mesure spécialement conçu pour l'analyse morphologique microscopique de pièces de haute précision, offrant des capacités de mesure de haute précision et une excellente stabilité.
Dans le domaine de la fabrication de précision, la méthode de mesure traditionnelle une seule dimension ne suffit plus pour répondre aux exigences de qualité rigoureuses des industries modernes pour les pièces. Bien que la détection de taille conventionnelle puisse refléter les tolérances géométriques des pièces, il est difficile de saisir l'influence clé de la micro-topographie de surface sur les performances des pièces.
L'instrument de mesure de la topographie rompt les limites des méthodes de mesure traditionnelles et est spécialement conçu pour l'analyse morphologique microscopique des pièces de haute précision. Il adopte une technologie de capteur de contact avancée pour mesurer avec précision les caractéristiques de surface allant du nanomètre au micromètre.
Paramètres techniques
Plage de mesure | Axe X | 120-220 mm |
Résolution de l'axe X | 1,2 nm | |
Axe Z | 420 mm, 620 mm (optionnel) | |
Capteur de profil | Plage de mesure de l'axe Z1 | 30-60 mm |
Résolution Z1 | 1,2 nm | |
Précision du profil | Précision linéaire Z1 | ≤±(0,5 +|0,02H|) μm |
Arc circulaire | ±(1 + R/12) μm | |
Pt arc circulaire | ≤0,3 μm | |
Angle | ±1′ | |
Rectitude | 0,3 μm/100 mm (longueur d'onde de coupure 0,8) | |
Vitesse d'entraînement | Mode d'entraînement de l'axe X | Électrique |
Mode d'entraînement de l'axe Y | Électrique | |
Vitesse de mesure maximale | 2 mm/s | |
Dimensions du marbre | 500 mm × 800 mm | |
Comptoir Matériau | Marbre naturel |
Instrument de mesure de la morphologie de surface Nanomètre Micromètre Dispositif de mesure de la topographie
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