Puissance de fonctionnement (tension du tube, courant du tube)

600W (40kV, 15mA) ou 1200W (40kV, 30mA) ; Stabilité : 0,005 %

Tube rayons X

Tube rayons X en métal-céramique, cible Cu, puissance 2,4 kW, taille du foyer : 1x10 mm ; Méthode de refroidissement : refroidissement par air ou par eau (débit d'eau > 2,5 L/min)

Goniomètre

Structure θs-θd horizontale de l'échantillon, rayon du cercle de diffraction 150 mm

Mesure de l'échantillon Modes

Continu, Séquentiel, Omg

Plage de mesure angulaire

-3° - 150° lorsque θs/θd sont liés

Largeur de pas minimale

0,0001°

Reproductibilité angulaire

0,0005°

Vitesse de positionnement angulaire

1500°/min

Compteur

Compteur proportionnel scellé ou compteur semi-conducteur unidimensionnel grande vitesse

Résolution du spectre énergétique

Moins de 25 %

Taux de comptage linéaire maximal

≥5×10⁵ CPS (compteur proportionnel) ; ≥9×10⁷ CPS (compteur semi-conducteur unidimensionnel)

Logiciel de contrôle de l'instrument

Système d'exploitation Windows 7 ; Contrôle automatiquement la tension du tube, le courant du tube, l'obturateur et le vieillissement du tube rayons X du générateur de rayons X ; Contrôle le goniomètre pour une numérisation continue ou par étapes tout en collectant des données de diffraction ; Effectue le traitement de routine des données de diffraction : recherche automatique des pics, recherche manuelle des pics, intensité intégrale, hauteur des pics, centre de gravité, soustraction du fond, lissage, grossissement de la forme des pics, comparaison du spectre, etc.

Logiciel de traitement des données

Les fonctions incluent l'analyse qualitative et quantitative des phases, le dépouillement Kα1 et α2, l'ajustement du spectre complet, l'ajustement des pics sélectionnés, le calcul de la largeur mi-hauteur (FWHM) et de la taille des grains, la détermination de la cellule unitaire, le calcul de la contrainte de type II, l'indexation des lignes de diffraction, le traçage multiple, le traçage 3D, l'étalonnage des données de diffraction, la soustraction du fond, l'analyse quantitative sans standard, l'ajustement complet du motif (WPF), la simulation du spectre de diffraction XRD, etc.

Protection contre le rayonnement diffusé

Protection en plomb + verre au plomb ; Verrouillage entre la fenêtre de l'obturateur et le dispositif de protection ; Dose de rayonnement diffusé ≤1μSv/h

Stabilité globale de l'instrument

≤1‰

Capacité de chargement d'échantillons en une seule fois

Équipé d'un changeur d'échantillons, capable de charger jusqu' 6 échantillons la fois

Dimensions hors tout de l'instrument

600×410×670 (l×p×h) mm