Équipement d'essai Testeur complet pour la charge rapide de circuits 2/4/6/8/12/16 ATE Système de test d'alimentation électrique conventionnel
Numéro de modèle:Super-intelligent 1300
Lieu d'origine:Chine
Quantité minimale de commande:Un ensemble
Conditions de paiement:T/T
Capacité à fournir:10 ensembles /30 jours
Délai de livraison:2 à 3 semaines
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Chambre 5072, unité 1, bâtiment 1, n° 2, section Nancheng, rue Tiyu, rue Nancheng, ville de Dongguan, province du Guangdong
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Équipement d'essai Testeur complet pour la charge rapide de circuits 2/4/6/8/12/16 ATE Système de test d'alimentation électrique conventionnel
- Recherche et développement et amélioration
Optimisation des performances: au cours de la phase de recherche et de développement de l'alimentation,le système ATE peut aider les ingénieurs mesurer rapidement et précisément les paramètres de performance de l'alimentation électrique et analyser ses goulots d'étranglement de performancePar exemple, si l'essai révèle que l'efficacité de conversion de l'alimentation est faible,Les ingénieurs peuvent ajuster la topologie du circuit et sélectionner les composants appropriés pour améliorer l'efficacité de la conversion.
Analyse des défauts: lorsque l'alimentation électrique présente un dysfonctionnement ou des performances anormales,le système ATE peut aider les ingénieurs identifier rapidement la cause du défaut grce des données d'essai détaillées et des outils d'analyseCela contribue raccourcir le cycle de développement, réduire les coûts et améliorer la qualité et la fiabilité de l'alimentation électrique.
Test de compatibilité: pour les alimentations qui doivent être utilisées conjointement avec une variété de dispositifs, tels que des adaptateurs et des chargeurs, le système ATE peut effectuer des tests de compatibilité.Il détecte le degré de correspondance entre l'alimentation et les différents appareils et s'il existe des problèmes de compatibilité, pour assurer le fonctionnement normal de l'alimentation électrique dans les applications pratiques.
- Surveillance du processus de production et contrôle de la qualité
Épreuves en chaîne de production: pendant la production de l'alimentation, le système ATE peut servir de dispositif d'essai automatisé sur la chaîne de production,réalisation de tests rapides et de sélection de chaque alimentation électriqueCela peut améliorer l'efficacité de la production, réduire les erreurs et la charge de travail des essais manuels et s'assurer que chaque alimentation électrique sortant de l'usine respecte les normes de qualité.
Traçabilité de la qualité: le système ATE peut enregistrer les données d'essai et les résultats de chaque alimentation, formant ainsi un système de traçabilité de la qualité.la cause profonde peut être rapidement identifiée en consultant les données de l'essai, permettant de prendre les mesures correctives correspondantes.Il aide également analyser la tendance des fluctuations de qualité pendant le processus de production et améliorer continuellement le processus de production.
Essai l'entrée | Essai de charge |
| Rampes de tension d'entrée | Épreuve de courant de charge |
| Rampes de fréquence d'entrée | Épreuves de pleine charge |
| Désactivation du cycle AC | test de charge lente |
| Mode de distorsion de l'alimentation électrique d'entrée | Test de réglage de l'identifiant de charge lente |
| Courant RMS d'entrée | Décharge pendant l'essai de charge |
| puissance d'entrée | Épreuve d'indication électrique |
| Facteur de puissance d'entrée | Fonction de la batterie de simulation |
| Épreuve de courant de pointe d'entrée | Essai de recharge sans fil |
| Épreuve de sortie | Test dynamique / chronométrage |
| Voltage de sortie CC | Retournez l' heure |
| Courant de sortie CC | Temps de montée |
| Séquence de mise sous tension | Temps d'automne |
| Séquence d'arrêt | Temps d'attente |
| Suivi | Essai spécial |
| Épreuve d'efficacité | Épreuve de tension et d'état de la lampe LED |
| Épreuve de surtension | Épreuve de fréquence de clignotement LED |
| Bruit de pointe | Essai en mode veille |
| Essai de stabilité | Épreuve de tension D + / D |
| Régulation de la tension | Épreuves de communication et d'étalonnage des MCU |
| Règlement en vigueur | Essai de décharge |
| Essai d'effet mixte | GPIB lecture/écriture |
| Épreuve de protection | Lire/écrire sur USB |
| Essai de court-circuit | RS232 lecture / écriture |
| Protection contre les OV | Contrôle du signal TTL |
| Protection contre les UV | Contrôle du relais |
| Essai de protection contre la charge | Scan du code barres |
| Essai de protection contre les rejets | Fonction de mesure étendue |
| Épreuve de protection contre le surcourant | |
| Test de charge rapide ((Applicable au QC2.0, QC3.0 et autres essais de charge rapide) |
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