Analyse microscopique de surface

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Analyse microscopique de surface
Analyse microscopique de surface
L'analyse microscopique de surface est l'utilisation de microscopes, microscopes électroniques balayage et microscopes électroniques transmission pour observer la surface, les fractures,et autres sections d'intérêt de l'échantillon grossissement élevéPar exemple, la morphologie de surface, la morphologie des fractures, la structure métallographique, la structure en couches microscopiques et d'autres éléments d'essai nécessitant une observation grossissement élevé.

Laboratoire d'analyse microscopique de surface

Portée d'application
Composants électroniques, électronique automobile, médicale, communications, téléphones portables, ordinateurs, électriques, etc.
Fonction et signification
Grce l'analyse microscopique de la morphologie des matériaux, les ingénieurs peuvent prédire efficacement les performances des matériaux, afin de mieux juger de la portée de l'application et de la durée de vie sûre des matériaux. présent., avec le développement continu de la science et de la technologie, les méthodes d'analyse des matériaux sont également constamment améliorées et diversifiées.Les chercheurs peuvent explorer le monde microscopique des matériaux l'aide d'instruments plus sophistiqués et de technologies avancées..
Application de l'analyse microscopique de surface
1. Fournir l'observation et l'analyse des microstructures de surface et de section transversale;
2. Fournir une mesure et un marquage précis de l'épaisseur du film pour les échantillons de structures multicouches;
3. Le contraste d'image passif (PVC) par balayage de faisceau d'électrons faible énergie peut localiser avec précision les dommages des composants faible fuite ou contact médiocre et fournir un jugement d'analyse anormale;
4. Les échantillons sont fournis avec SEM pour tirer et couler automatiquement le circuit grce la technologie d'élimination de couche (Delayers),et les fichiers d'images générés peuvent être reliés verticalement aux images générées par microscope optique, fournissant une référence pour l'ingénierie inverse de la restauration des circuits.

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