Type de N, substrat de GaAs par VGF, 3", diodes lasers de catégorie et LED principales

Brand Name:PAM-XIAMEN
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Type de N, substrat de GaAs par VGF, 3", diodes lasers de catégorie et LED principales

 

PAM-XIAMEN fournit monocristal et la gaufrette polycristalline de GaAs (arséniure de gallium) pour l'industrie d'optoélectronique et de microélectronique pour faire le LD, la LED, le circuit micro-ondes et les demandes de pile solaire, les gaufrettes est dans la gamme de diamètre de 2" 6" dans diverses épaisseurs et orientations. Nous offrons la gaufrette du monocristal GaAs produite par deux techniques principales LEC de croissance et méthode de VGF, nous permettant de fournir des clients le choix le plus large du matériel de GaAs l'uniformité élevée des propriétés électriques et de l'excellente qualité extérieure. L'arséniure de gallium peut être fourni comme lingots et gaufrette polie, conduisant et la gaufrette semi-isolante de GaAs, la catégorie mécanique et la catégorie prête sont toutes d'epi disponibles. Nous pouvons offrir la gaufrette de GaAs avec la valeur basse d'EPD et la qualité extérieure élevée appropriées vos applications de MOCVD et de MBE. PAM-XIAMEN peut produire des catégories d'éventail : catégorie principale, catégorie d'essai, et catégorie optique. Veuillez contacter notre équipe d'ingénieur pour plus d'information de gaufrette.

 

Gaufrettes d'arséniure de gallium (GaAs) pour des applications de LED

ArticleCaractéristiques 
Type de conductionSC/n-type
Méthode de croissanceVGF
DopantSilicium
Gaufrette Diamter3, pouce
Crystal Orientation(100) 2°/6°/15° outre de (110)
DEEJ ou les USA
Concentration en transporteur

(0.4~2.5) E18/cm3

 

Résistivité la droite(1.5~9) E-3 Ohm.cm
Mobilité

1500~3000cm2/V.sec

 

Gravure l'eau forte Pit Density<5000/cm2
Inscription de laser

sur demande

 

Finition extérieure

P/E ou P/P

 

Épaisseur

220~450um

 

Épitaxie prêteOui
PaquetConteneur ou cassette simple de gaufrette

 

Gaufrettes d'arséniure de gallium (GaAs) pour des applications de LD

ArticleCaractéristiquesRemarques
Type de conductionSC/n-type 
Méthode de croissanceVGF 
DopantSilicium 
Gaufrette Diamter3, pouceLingot ou comme-coupe disponible
Crystal Orientation(100) 2°/6°/15°off (110)L'autre misorientation disponible
DEEJ ou les USA 
Concentration en transporteur(0.4~2.5) E18/cm3 
Résistivité la droite(1.5~9) E-3 Ohm.cm 
Mobilité1500~3000 cm2/V.sec 
Gravure l'eau forte Pit Density<500/cm2 
Inscription de lasersur demande 
Finition extérieureP/E ou P/P 
Épaisseur220~350um 
Épitaxie prêteOui 
PaquetConteneur ou cassette simple de gaufrette

 

Propriétés de cristal de GaAs

PropriétésGaAs
Atoms/cm34,42 x 1022
Poids atomique144,63
Champ de panneapproximativement 4 x 105
Crystal StructureZincblende
Densité (g/cm3)5,32
Constante diélectrique13,1
Densité efficace des états dans la bande de conduction, OR (cm-3)4,7 x 1017
Densité efficace des états dans Valence Band, nanovolt (cm-3)7,0 x 1018
Affinité d'électron (v)4,07
Domaine d'énergie 300K (eV)1,424
Concentration en transporteur intrinsèque (cm-3)1,79 x 106
Debye Length intrinsèque (microns)2250
Résistivité intrinsèque (ohm-cm)108
Constante de trellis (angströms)5,6533
Coefficient linéaire de dilatation thermique,6,86 x 10-6
ΔL/L/ΔT (1 deg. C)
Point de fusion (deg. C)1238
Vie de transporteur de minorité (s)approximativement 10-8
Mobilité (dérive)8500
(cm2/V-s)
µn, électrons
Mobilité (dérive)400
(cm2/V-s)
µp, trous
Énergie optique de phonon (eV)0,035
Parcours moyen de phonon libre (angströms)58
La chaleur spécifique0,35
(J/g-deg C)
Conduction thermique 300 K0,46
(W/cm-degC)
Diffusivité thermique (cm2/sec)0,24
Pression de vapeur (PA)100 1050 deg. C ;
1 900 deg. C

 

 
Longueur d'ondeIndexez
(µm)
2,63,3239
2,83,3204
33,3169
3,23,3149
3,43,3129
3,63,3109
3,83,3089
43,3069
4,23,3057
4,43,3045
4,63,3034
4,83,3022
53,301
5,23,3001
5,43,2991
5,63,2982
5,83,2972
63,2963
6,23,2955
6,43,2947
6,63,2939
6,83,2931
73,2923
7,23,2914
7,43,2905
7,63,2896
7,83,2887
83,2878
8,23,2868
8,43,2859
8,63,2849
8,83,284
93,283
9,23,2818
9,43,2806
9,63,2794
9,83,2782
103,277
10,23,2761
10,43,2752
10,63,2743
10,83,2734
113,2725
11,23,2713
11,43,2701
11,63,269
11,83,2678
123,2666
12,23,2651
12,43,2635
12,63,262
12,83,2604
133,2589
13,23,2573
13,43,2557
13,63,2541

 

Quel est le processus de GaAs ?

Des gaufrettes de GaAs doivent être préparées avant la fabrication de dispositif. Pour commencer, elles doivent être complètement nettoyées pour enlever n'importe quels dommages qui pourraient s'être produits pendant le processus de découpage en tranches. Les gaufrettes alors sont chimiquement mécaniquement polies/Plaranrized (CMP) pour l'étape matérielle finale de retrait. Ceci tient compte de l'accomplissement des surfaces comme un miroir superbe-plates avec une rugosité restante sur une échelle atomique. Ensuite cela est accompli, la gaufrette est prêt pour la fabrication.

Ce qui est les propriétés électriques de la gaufrette de GaAs

Paramètres de base

Champ de panne≈4·105 V/cm
Électrons de mobilitécm2 de ≤8500 V-1s-1
Trous de mobilitécm2 de ≤400 V-1s-1
Électrons de coefficient de diffusion≤200 cm2/s
Trous de coefficient de diffusion≤10 cm2/s
Vitesse thermique d'électron4,4·105 m/s
Vitesse thermique de trou1,8·105m/s

Mobilité et Hall Effect

Mobilité de hall d'électron contre la température pour différents niveaux de dopage.

1. Courbe inférieure : Nd=5·1015cm-3 ;
2. courbe moyenne : Nd=1015cm-3 ;
3. Courbe supérieure : Nd=5·1015cm-3
Pour la GaAs faiblement enduite la température de près de 300 K, mobilité de hall d'électron
µH=9400 (300/T) cm2 de V-1 S1
Mobilité de hall d'électron contre la température pour différents niveaux et degrés de dopage de compensation (hautes températures) :
Cercles ouverts : Nd=4Na=1.2·1017 cm-3 ;
Places ouvertes : Nd=4Na=1016 cm-3 ;
Triangles ouvertes : Nd=3Na=2·1015 cm-3 ;
La courbe solide représente le calcul pour la GaAs pure
Pour la GaAs faiblement enduite la température de près de 300 K, mobilité de glissement des électrons
µn=8000 (300/T) 2/3 cm2 de V-1 S1
Mobilité de dérive et de hall contre la concentration d'électron pour différents degrés de compensation T= 77 K
 
Mobilité de dérive et de hall contre la concentration d'électron pour différents degrés de compensation T= 300 K
 

Formule approximative pour la mobilité de hall

. µn =ΜOH/(1+Nd·10-17) 1/2, où ΜOH≈9400 (cm2 de V-1 S1), ND dans cm-3
.

La dépendance de la température du facteur de Hall pour la GaAs de type n pure dans un champ magnétique faible
 
La dépendance de la température de la mobilité de hall pour trois échantillons de grande pureté
 

Pour la GaAs aux températures de près de 300 K, mobilité de hall de trou

 (cm2V-1s-1), (p - dans cm-3)
Pour la GaAs faiblement enduite la température de près de 300 K, mobilité de hall
µpH=400 (300/T) 2,3 (cm2 de V-1 S1).

La mobilité de hall de trou contre la densité de trou.
 

Chez T= 300 K, le facteur de Hall dans la GaAs pure

rH=1.25.

Propriétés de transport dans les champs électriques élevés

Les dépendances de champ de la vitesse de glissement des électrons.

La courbe solide a été calculée par
Les courbes précipitées et pointillées sont les données mesurées, 300 K
Les dépendances de champ de la vitesse de glissement des électrons pour les champs électriques élevés, 300 K.
 
Les dépendances de champ de la vitesse de glissement des électrons aux différentes températures.
 
Fraction des électrons en vallées de L et de X. le NL et nX en fonction du champ électrique F 77, 160, et 300 K, Nd=0
Courbe pointillée - L vallées, courbe tiret - vallées X.
Énergie moyenne E dans Γ, L, et X vallées en fonction du champ électrique F 77, 160, et 300 K, Nd=0
Courbe solide - vallées de Γ, courbe pointillée - L vallées, courbe tiret - vallées X.
Les dépendances de fréquence de la mobilité différentielle d'électron.
le µd est partie réelle de la mobilité différentielle ; pièce imaginaire de µd*is de mobilité différentielle.
F= 5,5 kilovolts cm-1
 
La dépendance de champ du coefficient de diffusion longitudinal d'électron D||F.
Les courbes solides 1 et 2 sont des calculs théoriques. Les courbes précipitées 3, 4, et 5 sont des données expérimentales.
Courbe 1 - de
Courbe 2 - de
Courbe 3 - de
Courbe 4 - de
Courbe 5 -
Les dépendances de champ de la vitesse de dérive de trou aux différentes températures.
 
La dépendance de la température de la vitesse de trou de saturation dans les champs électriques élevés
 
La dépendance de champ du coefficient de diffusion de trou.
 

Ionisation d'impact

Il y a deux écoles de pensée concernant l'ionisation d'impact dans la GaAs.

Les déclarer premier qui effectuent le αi et le βi de taux d'ionisation pour des électrons et des trous dans la GaAs sont connus assez exactement pour distinguer de tels détails subtils tels que l'anisothropy du αi et du βi pour différentes directions cristallographiques. Cette approche est décrite en détail dans le travail par Dmitriev et autres [1987].

Αi et βi expérimentaux de courbes contre 1/F pour la GaAs.
 
Αi et βi expérimentaux de courbes contre 1/F pour la GaAs.
 
Αi et βi expérimentaux de courbes contre 1/F pour la GaAs.
 

Les deuxièmes foyers d'école sur les valeurs du αi et le βi pour le même champ électrique rapporté par différent recherche diffèrent par un ordre de grandeur ou davantage. Ce point de vue est expliqué par Kyuregyan et Yurkov [1989]. Selon cette approche nous pouvons supposer que αi = βi. Formule approximative pour la dépendance de champ des taux d'ionisation :
=αoexp de αi = de β i [δ - (δ2 + (F0/F) 2) 1/2]
l où αo = 0,245·106 cm-1 ; β = 57,6 les FO = 6,65·106 V cm-1 (Kyuregyan et Yurkov [1989]).

Tension claque et champ de panne contre enduire la densité pour une jonction brusque de PN.

Paramètre de recombinaison

Matériel de type n pur (non | 1014cm-3) 
La plus longue vie des trousτp ~3·10-6 s
Longueur de diffusion Lp = (DP·τp) 1/2Μm de Lp ~30-50.
Matériel de type p pur 
() un niveau bas d'injection 
La plus longue vie des électronsτn | 5·10-9 s
Longueur de diffusion Ln = (DN·τ n) 1/2Μm de Ln ~10
(b) niveau élevé d'injection (pièges remplis) 
La plus longue vie des électronsτ ~2,5·10-7 s
Longueur de diffusion LnLn | µm 70

 

Vitesse de recombinaison extérieure contre enduire la densité

Les différents points expérimentaux correspondent différentes méthodes de préparation de surface.

Coefficient radiatif de recombinaison

90 K1,8·10-8cm3/s
185 K1,9·10-9cm3/s
300 K7,2·10-10cm3/s

Coefficient de foreuse

300 K~10-30cm6/s
500 K~10-29cm6/s

 

Recherchez-vous la gaufrette de GaAs ?

PAM-XIAMEN est votre aller- l'endroit pour tout des gaufrettes, y compris des gaufrettes de GaAs, comme nous l'avions fait pendant presque 30 années ! Enquérez-vous nous aujourd'hui pour apprendre plus au sujet des gaufrettes que nous offrons et de la façon dont nous pouvons vous aider avec votre prochain projet. Notre équipe de groupe attend avec intérêt de fournir des produits de qualité et l'excellent service pour vous !

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