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Résolution de table du microscope à balayage électronique d'ESB EDS 1X-300000X 3nm

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Résolution de table du microscope à balayage électronique d'ESB EDS 1X-300000X 3nm

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Number modèle :M22006
Point d'origine :La Chine
Quantité d'ordre minimum :Négociable
Conditions de paiement :L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union
Capacité d'approvisionnement :10 PCS/Month
Délai de livraison :40 jours de travail
Détails de empaquetage :1 boîte de PC/Wooden
Couleur :blanc
Personnalisation :OEM, ODM
Emballage :1 PC/Carton
Garantie :1 an
Délai d'obtention :40 jours de travail
Résolution :3Nm
Rapport optique :300000X
Tension de accélération :1~30kV
Détection de signal :Détecteur électronique secondaire (SED)
Canon électronique :filament de type fourchette moyen Pré-aligné de tungstène
Taille de Max Sample :370mm de diamètre, 68mm dans la taille
Fonction automatique :Contraste automatique d'éclat, foyer automatique
Système de vide :Meilleur que PA 9 x 10-4 sous le vide poussé
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Résolution du microscope à balayage électronique du rapport optique 1X-300000X 3nm avec l'ESB facultatif, l'EDS, l'EBSD, le WDS et le CL

 

M22006 est un microscope à balayage électronique rentable de filament de tungstène pour l'observation des microstructures de nanoscale. Il a un rapport optique jusqu'derrière 300,000x et d'une résolution mieux que 3nm et est également équipé d'une chambre témoin de diamètre de 370mm. C'est un microscope à balayage électronique performant avec la résolution ultra-haute et l'excellente qualité d'image. Le rapport optique est sans interruption réglable, et des images claires avec l'intense luminosité peuvent être obtenues dans différents champs visuels. La profondeur du champ est grande et l'image est riche en stéréo. Équipé grande d'un mode de chambre témoin et de basse tension augmente considérablement l'étendue des applications.

 

Specials :

 

- Rapport optique 300000X maximum.

- Détection de signal : Détecteur électronique secondaire (SED).

- Tension de accélération : 1~30KV, résolution d'image élevée.

- BSE/EDS/EBSD/WDS/CL est facultatif, pour l'analyse composante.

- Système de vide poussé.

- Automatique gyroscopique (norme).

 

Article Spécifications M22006
Résolution 3nm@30kV (SE)
Rapport optique 1X~300000X
Tension de accélération 1~30kV
Détection de signal Détecteur électronique secondaire (SED)
Canon électronique filament de type fourchette moyen Pré-aligné de tungstène
Fonction automatique Contraste automatique d'éclat, foyer automatique
StageSystem/mouvement Méthode de contrôle : Valve automatique
Pompe de Turbomolecular : 240 L/S
Pompe mécanique : ³ /h (50 hertz) de 12 m
Caméra : Navigation optique, surveillant dans la chambre témoin
Configuration d'étape témoin, automatique gyroscopique (norme)
X : 0~100mm
Y : 0~100mm
Z : 0~60mm
Max Sample Diameter : 370mm
Max Sample Height : 68mm
Axe cinq automatique (facultatif)
X : 0~115mm
Y : 0~115mm
Z : 0~65mm
R : 360°
T : -10°~75°
Max Sample Diameter : 370mm
Max Sample Height : 73mm
Système de vide Meilleur que PA 9 x 10-4 sous le vide poussé
Détecteur facultatif BSEEDSEBSDWDSCL
Système de représentation ≤ 6144 x 4096 de pixel d'image
Format d'image : TIFF, JPG, BMP, PNG
Logiciel Langue : Chinois/anglais
Système d'exploitation : Windows
Navigation : La navigation optique, font des gestes la navigation rapide
Fonction spéciale : Astigmatisme dynamique
Conditions d'installation L'espace : L≥ 3000 millimètres, ≥ de W 4000 millimètres, ≥ de H 2300 millimètres
Taille de porte : ≥ de W 900 millimètres, ≥ de H 2000 millimètres
La température : ℃ 20 au ℃ 25
Humidité : ≤ 50%
Bruit : ≤ 45dB
Alimentation d'énergie : C.A. 220 V (± 10 %), 50 hertz, 2 KVAs
Fil de masse : Moins de 4 Ω
Champ magnétique à C.A. : Moins NT de 100

Note :● signifie la norme, ○ signifie facultatif

 

 

Galerie

 

Résolution de table du microscope à balayage électronique d'ESB EDS 1X-300000X 3nm

Résolution de table du microscope à balayage électronique d'ESB EDS 1X-300000X 3nm

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Applications

 

Résolution de table du microscope à balayage électronique d'ESB EDS 1X-300000X 3nm

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Résolution de table du microscope à balayage électronique d'ESB EDS 1X-300000X 3nm

 

 

 

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