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Équipement d'essai Mesures très précises Puissance de performance coûteuse Système d'essai automatique Top-Smart 1100E
Le système de test de puissance automatique Chuangrui Top-Smart 1100E convient aux tests de performance complets des banques d'alimentation mobiles, des chargeurs et des PCBA de protection de la batterie.Il comporte une large gamme d'éléments d'essai et comprend des fonctions permettant d'enregistrer les procédures d'essai et les donnéesLe système prend en charge les tests de charge et de décharge rapide pour QC, PD, MTK et d'autres protocoles, ainsi que les tests de charge sans fil.Avec sa capacité d'essai de commutation à plusieurs stations, il peut améliorer considérablement l'efficacité des essais, ce qui en fait le choix optimal pour les services de R&D, d'inspection de la qualité et de production pour tester les performances des alimentations mobiles.
Éléments d'essai du système d'essai d'alimentation mobile Top-Smart 1100E:
Essai à l'entrée |
Essai de charge |
Rampes de tension d'entrée | Épreuve de courant de charge |
Rampes de fréquence d'entrée | Épreuves de pleine charge |
Désactivation du cycle AC | test de charge lente |
Mode de distorsion de l'alimentation électrique d'entrée | Test de réglage de l'identifiant de charge lente |
Courant RMS d'entrée | Décharge pendant l'essai de charge |
puissance d'entrée | Épreuve d'indication électrique |
Facteur de puissance d'entrée | Fonction de la batterie de simulation |
Épreuve de courant de pointe d'entrée | Essai de recharge sans fil |
Épreuve de sortie | Test dynamique / chronométrage |
Voltage de sortie CC | Retournez l' heure |
Courant de sortie CC | Temps de montée |
Séquence de mise sous tension | Temps d'automne |
Séquence d'arrêt | Temps d'attente |
Suivi | Essai spécial |
Épreuve d'efficacité | Épreuve de tension et d'état de la lampe LED |
Épreuve de surtension | Épreuve de fréquence de clignotement LED |
Bruit de pointe | Essai en mode veille |
Essai de stabilité | Épreuve de tension D + / D |
Régulation de la tension | Épreuves de communication et d'étalonnage des MCU |
Règlement en vigueur | Essai de décharge |
Essai d'effet mixte | GPIB lecture/écriture |
Épreuve de protection | Lire/écrire sur USB |
Essai de court-circuit | RS232 lecture / écriture |
Protection contre les OV | Contrôle du signal TTL |
Protection contre les UV | Contrôle du relais |
Essai de protection contre la charge | Scan du code à barres |
Essai de protection contre les rejets | Fonction de mesure étendue |
Épreuve de protection contre le surcourant | |
Test de charge rapide ((Applicable au QC2.0, QC3.0 et autres essais de charge rapide) |
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