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Système d'essai Mesures très précises Puissance de performance à coût élevé Système d'essai automatique Top-Smart 1100E
Éléments d'essai du système d'essai d'alimentation mobile Top-Smart 1100E:
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Essai à l'entrée |
Essai de charge |
| Rampes de tension d'entrée | Épreuve de courant de charge |
| Rampes de fréquence d'entrée | Épreuves de pleine charge |
| Désactivation du cycle AC | test de charge lente |
| Mode de distorsion de l'alimentation électrique d'entrée | Test de réglage de l'identifiant de charge lente |
| Courant RMS d'entrée | Décharge pendant l'essai de charge |
| puissance d'entrée | Épreuve d'indication électrique |
| Facteur de puissance d'entrée | Fonction de la batterie de simulation |
| Épreuve de courant de pointe d'entrée | Essai de recharge sans fil |
| Épreuve de sortie | Test dynamique / chronométrage |
| Voltage de sortie CC | Retournez l' heure |
| Courant de sortie CC | Temps de montée |
| Séquence de mise sous tension | Temps d'automne |
| Séquence d'arrêt | Temps d'attente |
| Suivi | Essai spécial |
| Épreuve d'efficacité | Épreuve de tension et d'état de la lampe LED |
| Épreuve de surtension | Épreuve de fréquence de clignotement LED |
| Bruit de pointe | Essai en mode veille |
| Essai de stabilité | Épreuve de tension D + / D |
| Régulation de la tension | Épreuves de communication et d'étalonnage des MCU |
| Règlement en vigueur | Essai de décharge |
| Essai d'effet mixte | GPIB lecture/écriture |
| Épreuve de protection | Lire/écrire sur USB |
| Essai de court-circuit | RS232 lecture / écriture |
| Protection contre les OV | Contrôle du signal TTL |
| Protection contre les UV | Contrôle du relais |
| Essai de protection contre la charge | Scan du code à barres |
| Essai de protection contre les rejets | Fonction de mesure étendue |
| Épreuve de protection contre le surcourant | |
| Test de charge rapide ((Applicable au QC2.0, QC3.0 et autres essais de charge rapide) |
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