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Système d'essai complet pour le testeur ATE, équipement de détection du vieillissement du cabinet d'alimentation LED
Les principales fonctions du système d'essai ATE comprennent les aspects suivants:
Tests automatisés:
Prise en charge de divers contenus de test:
Test par lots:
Analyse et déclaration des données:
Détection des défauts et avertissement précoce:
Flexibilité et évolutivité:
Compatibilité et universalité:
Éléments d'essai du système d'essai d'alimentation mobile Top-Smart 1100:
Essai à l'entrée |
Essai de charge |
Rampes de tension d'entrée | Épreuve de courant de charge |
Rampes de fréquence d'entrée | Épreuves de pleine charge |
Désactivation du cycle AC | test de charge lente |
Mode de distorsion de l'alimentation électrique d'entrée | Test de réglage de l'identifiant de charge lente |
Courant RMS d'entrée | Décharge pendant l'essai de charge |
puissance d'entrée | Épreuve d'indication électrique |
Facteur de puissance d'entrée | Fonction de la batterie de simulation |
Épreuve de courant de pointe d'entrée | Essai de recharge sans fil |
Épreuve de sortie | Test dynamique / chronométrage |
Voltage de sortie CC | Retournez l' heure |
Courant de sortie CC | Temps de montée |
Séquence de mise sous tension | Temps d'automne |
Séquence d'arrêt | Temps d'attente |
Suivi | Essai spécial |
Épreuve d'efficacité | Épreuve de tension et d'état de la lampe LED |
Épreuve de surtension | Épreuve de fréquence de clignotement LED |
Bruit de pointe | Essai en mode veille |
Essai de stabilité | Épreuve de tension D + / D |
Régulation de la tension | Épreuves de communication et d'étalonnage des MCU |
Règlement en vigueur | Essai de décharge |
Essai d'effet mixte | GPIB lecture/écriture |
Épreuve de protection | Lire/écrire sur USB |
Essai de court-circuit | RS232 lecture / écriture |
Protection contre les OV | Contrôle du signal TTL |
Protection contre les UV | Contrôle du relais |
Essai de protection contre la charge | Scan du code à barres |
Essai de protection contre les rejets | Fonction de mesure étendue |
Épreuve de protection contre le surcourant | |
Test de charge rapide ((Applicable au QC2.0, QC3.0 et autres essais de charge rapide) |
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