Chambre de vieillissement accélérée par température de ciel et terre adaptée aux besoins du client par machine d'essai concernant l'environnement
Caractéristique
- Personnalisation de soutien du nombre de puces d'essai de PCIE, telles que 32 puces, 36 puces, 64 puces, 96 puces, 156 puces, 216 puces, etc. ;
- Recherche et développement de soutien de la personnalisation microminiature, telle que 4 morceaux, 8 morceaux, etc.
- Essai de soutien (- 70°~+ 180°)
- Essai anormal de panne de courant de soutien et essai de vieillissement
- Essai de contrôle de température automatisé par appui ;
- Soutenez tous les essais de contrôle intelligents avec le logiciel ;
- Personnalisation de soutien de logiciel d'essai ;
- Soutenez l'équilibre de la vitesse du vent et de la température dans la boîte ;
- Chauffage rapide de soutien et contrôle de refroidissement ;
- Recherche et développement adaptée aux besoins du client par appui du vieillissement de PCIE ;
- Contrôle de réseau de soutien, vous pouvez commander l'essai dans différents endroits et voir les résultats d'essai ;
- Essai à télécommande d'APPLI de soutien ;
Le système de test entier de machine inclut principalement la boîte de la température de ciel et terre, le conseil principal de PC, le conseil de P.M., le panneau de puce, le conseil de FPGA, l'outillage de produit, le PC d'ESSAI d'entrepôt et le logiciel arrière d'essai, etc. La cloison de matériel.
Aperçu de système de test intelligent de disque transistorisé
Le système de test intelligent du disque transistorisé adopte la plate-forme Win10 du système d'exploitation, par le mode ouvert de manuscrit, la température de la boîte de la température de ciel et terre et les articles d'essai des produits de PCIE peuvent être modifiés arbitrairement, et la transmission de données est effectuée par le système Linux et le commutateur de réseau pour réaliser l'opération d'un-bouton, contrôle relié au réseau, travail économisant, réalisant la gestion des données intelligente, et de manière permanente maintenant des résultats d'essai.
L'information
| modèle de produit |
HD-64-PCIE |
| Taille intérieure de boîte |
W620×D450×H1100mm |
| Taille externe de boîte |
约 W1640×D1465×H1875mm (machine intégrée)) |
| Volume intérieur de boîte |
460L |
| Méthode s'ouvrante |
Porte simple (droite ouvrez-vous) |
| méthode de refroidissement |
à refroidissement par air |
| poids |
au sujet de 900KG |
| alimentation d'énergie |
C.A. 220V environ 6,5 kilowatts |
Paramètre de la température
| température ambiante |
-5℃~100℃ |
| Fluctuation de la température |
≤±0.5℃
≤±1℃
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| compensation de la température |
≤±2℃ |
| résolution de la température |
0.01℃ |
| Taux de chauffage |
5℃/min (refroidissement mécanique, sous la charge standard) |
| taux de changement de température |
La haute température peut rencontrer réglable 5℃~8℃/min non linéaire (mesuré à la bouche d'air, à la réfrigération mécanique, sous la charge standard), basse température peut rencontrer 0℃~2℃/min non linéaire
Réglable (mesuré à la bouche d'air, refroidissement mécanique, sous la charge normale)
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| uniformité de la température |
≤±2℃ |
| charge standard |
10KG bloc en aluminium, charge 500W ; |
Norme d'essai
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Équipement de test de la température GB/T5170.2-2008
GB/2423.1-2008 (IEC60068-2-1 : 2007) méthodes ab d'essai de basse température.
GB/2423.2-2008 (IEC60068-2-2 : 2007) BA à hautes températures de méthode d'essai.
Méthode à hautes températures de l'essai GJBl50.3 (MIL-STD-810D).
Méthode d'essai de la basse température GJBl50.4 (MIL-STD-810D).
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Système de contrôle
| Affichage |
Affichage d'affichage à cristaux liquides de couleur |
| Mode d'opération |
Mode 100, mode de valeur fixe |
| Arrangement |
Menu chinois et anglais (facultatif), entrée d'écran tactile |
| Établissement de la gamme |
La température : Ajustez selon la gamme de fonctionnement de la température de l'équipement (limite supérieure +5°C, limite inférieure -5°C) |
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résolution d'affichage
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La température : 0.01°C
Temps : 0.01min
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méthode de contrôle
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BTC a équilibré la méthode de contrôle de température + le DCC (contrôle de refroidissement intelligent) + DEC (contrôle électrique intelligent) (l'équipement de test de la température)
BTHC a équilibré la température et la méthode de contrôle d'humidité + le DCC (contrôle de refroidissement intelligent) + DEC (contrôle électrique intelligent) (l'équipement de test de la température et d'humidité)
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Fonction de disque de courbe
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Il a RAM avec la protection de batterie, qui peut sauver la valeur réglée, prélevant la valeur et prélevant la période du dispositif ; le temps d'enregistrement maximum est de 350 jours (quand la période d'échantillonnage est 1.5min) |
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Fonction accessoire
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Censurez l'alarme et la cause, traitant la fonction rapide
Fonction de protection de puissance-
Fonction supérieure et inférieure de protection de température limite
Fonction de synchronisation de calendrier (le début et automatiques automatiques arrêtent l'opération)
fonction d'auto-diagnostic
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Notre introduction de société :
Le HAIDA INTERNATIONAL est un fabricant professionnel de divers genres d'équipements d'essai sur 24 ans. Les produits de HAIDA sont très utilisés dans les produits de papier, l'emballage, l'impression à l'encre, les rubans adhésifs, les sacs, les chaussures, les produits en cuir, l'environnement, les jouets, les produits de bébé, le matériel, les produits électroniques, les produits en plastique, les produits et d'autres industries, et applicable en caoutchouc à tous les unités de recherches scientifiques, établissements d'inspection de qualité et champs scolaires.
