Dongguan Zhongli Instrument Technology Co., Ltd.
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Testeur de conductivité thermique Méthode de la source de chaleur transitoire en plan
●Introduction:
Le ZL-3044C est un testeur de conductivité thermique développé à l'aide de la technologie de source de chaleur transitoire (TPS), qui peut être utilisé pour tester la conductivité thermique de différents types de matériaux.La méthode de la source de chaleur en plan transitoire est l'une des dernières méthodes pour étudier les performances de conduction thermique, ce qui permet d'atteindre un nouveau niveau de la technologie de mesure. La conductivité thermique peut être mesurée rapidement et précisément lors de l'étude des matériaux,qui offre une grande commodité pour le contrôle de la qualité des entreprisesL'instrument est facile à utiliser et facile à comprendre, il n'endommagera pas l'échantillon.
●Principaux paramètres techniques:
| Plage d'essai | 0.005-300 w / (m * k) |
| Plage de température | température ambiante - 130 °C |
| Diamètre de la sonde | La sonde n°1 est de 7,5 mm. |
| La sonde n° 2 est de 15 mm. | |
| La sonde n° 3 est de 30 mm. | |
| Précision | ± 3% |
| Erreur de répétabilité | ≤ 3% |
| Temps de mesure | 5 ~ 160 secondes |
| Énergie électrique | Échangeur de courant alternatif 220 V |
| Puissance totale | Pour les appareils électroniques |
| Hausse de la température de l'échantillon | < 15 °C |
| Puissance de l'échantillon d'essai P | Probée n°1:0 < p < 1W |
| Probée n°2:0 < p < 14W | |
| Problème n°3:0 < p < 14W | |
| Spécification de l'échantillon | Un seul échantillon mesuré par la sonde n° 1 (15 * 15 * 3,75 mm) |
| Un seul échantillon mesuré par la sonde n° 2 (30 * 30 * 7,5 mm) | |
| Un seul échantillon mesuré par la sonde n° 3 (60 * 60 * 20 mm) |
Note: la sonde n° 1 mesure des matériaux plus minces à faible conductivité, la sonde n° 2 est une sonde classique à usage général, et la sonde n°3 mesure les matériaux à conductivité plus élevée avec une plus grande conductivité thermiqueSi la surface de l'échantillon à mesurer est lisse et collante, les échantillons peuvent être empilés.
